一种直流电弧影响因素分析装置、方法、设备及介质

摘要

本发明提供一种直流电弧影响因素分析装置、方法、设备及介质，该装置包括电极控制模块、阳极器皿、导线和电源。电极控制模块用于控制电极向阳极器皿靠近以产生直流电弧，阳极器皿通过导线与电源连接，信息采集模块用于采集直流电弧的电弧形态、弧流、弧压和磁场信息，电弧分析模块用于接收信息采集模块采集的信息，基于采集的信息确定直流电弧影响因素对直流电弧的影响方向和数值影响水平，为有效定量分析不同影响因素对直流电弧的干扰影响提供解决的装置和方法。

说明书

技术领域

本发明涉及冶金装备技术领域，具体涉及一种模拟直流电弧影响因素分析装置、方法、设备及介质。

背景技术

电弧是一种气体放电现象，电流通过某些绝缘介质所产生的瞬间火花，电弧形成后，会产生大量的热。随着社会经济的不断发展，大功率电力电子器件得到广泛的应用。随之而来的是直流系统在各领域包括冶金领域的迅速普及，直流电弧炉是直流电作为能源的电流弧，它与交流电弧炉一样，利用电极和炉料间产生的电弧来发热，达到熔炼的目的，可以用来熔炼钢、合金和有色金属。直流电弧炉具有低能耗、低电极损耗、高能源转化效率、二氧化碳减排效果明显和网侧友好等优点，是冶金行业实现节能减排的重要装备。

然而根据国内外现有的直流电弧炉情况来看，直流电弧炉冶炼时极易受电源输出功率、短网路由、电极尺寸、电极数量及间距等外界因素的干扰，在多外界因素作用下的直流电弧炉工作存在偏弧严重、热效率不高等问题，相关技术中没有方法有效定量分析不同影响因素对直流电弧的干扰影响，已经成为冶金行业的痛点和发展瓶颈，严重阻碍直流电弧炉的推广运行。

发明内容

鉴于以上所述相关技术中没有方法有效定量分析不同影响因素对直流电弧的干扰影响的缺点，本发明提供一种直流电弧影响因素分析装置、方法、设备及介质，以解决上述技术问题。

本发明提供的直流电弧影响因素分析装置，包括电极控制模块、阳极器皿、导线、电源、信息采集模块和电弧分析模块；所述电极控制模块包括升降单元、夹持单元和支撑单元，所述升降单元用于控制电极向所述阳极器皿靠近，以产生直流电弧，所述夹持单元用于调整电极数量和电极间距，所述支撑单元用于连接所述升降单元和所述夹持单元；所述阳极器皿通过所述导线与所述电源连接；所述信息采集模块包括电弧形态采集单元、电量采集单元和磁场信息采集单元，所述电弧形态采集单元用于采集所述直流电弧的电弧形态，所述电量采集单元用于采集所述直流电弧的弧压和弧流，所述磁场信息采集单元用于采集所述直流电弧的磁场信息；所述电弧分析模块，接收所述信息采集模块采集的信息，基于所述电弧形态得到直流电弧影响因素对所述直流电弧的影响方向，基于所述弧压、所述弧流和所述磁场信息得到所述直流电弧影响因素对所述直流电弧的数值影响水平。

于本发明的一实施例中，所述升降单元包括升降操作连杆，所述夹持单元包括电极夹，所述支撑单元包括支撑立柱；所述升降操作连杆通过机械部件与所述支撑立柱连接；所述电极夹固定在所述支撑立杆上，通过调节所述电极夹的松紧程度，以夹持不同直径的电极。

于本发明的一实施例中，所述升降操作连杆通过旋转把手改变与所述支撑立杆之间的螺纹咬合方式，以控制所述支撑立柱上升或下降。

于本发明的一实施例中，所述电源的工作模式包括恒功率输出模式、恒电压输出模式和恒电流输出模式。

本发明还提供一种直流电弧影响因素分析方法，包括通过如上述各实施例中任一所述的直流电弧影响因素分析装置获取直流电弧的初始特性指标，所述直流电弧的影响因素包括电极数量、电极间距、导线走线方式和电源输出功率中至少之一；将一个所述影响因素确定为测试因素，改变所述测试因素的特征后，通过所述直流电弧影响因素分析装置采集所述直流电弧的测试特性指标；基于所述初始特性指标和所述测试特性指标，得到所述测试因素对所述直流电弧的影响方向和数值影响水平。

于本发明的一实施例中，变所述测试因素的特征包括：若所述测试因素为电极数量，则改变夹持单元中的所述电极数量；若所述测试因素为电极间距，则改变所述电极间距；若所述测试因素为导线走线方式，则改变导线在空间三维上的布置方式；若所述测试因素为电源输出功率，则改变电源的输出功率。

于本发明的一实施例中，基于所述初始特性指标和所述测试特性指标，得到所述测试因素对所述直流电弧的影响方向和数值影响水平包括，基于初始电弧形态和测试电弧形态，得到所述测试因素对直流电弧燃烧特性的影响方向，所述初始特性指标包括所述初始电弧形态、初始弧压、初始弧流及初始磁场信息，所述测试特性指标包括所述测试电弧形态、测试弧压、测试弧流及测试磁场信息；基于所述初始弧压、所述初始弧流、所述初始磁场信息、所述测试弧压、所述测试弧流及所述测试磁场信息，得到所述测试因素对直流电弧热效率的数值影响水平。

于本发明的一实施例中，获取直流电弧的初始指标之前，还包括，将预设电极数量的所述电极通过导线与电源相连，将所述电极间距设置为预设间距，将阳极器皿通过导线与电源相连；将所述导线走线方式布置成预设走线方式；将所述电源输出功率设置为预设输出功率，打开电源；通过电极控制模块将所述电极向所述阳极器皿靠近以产生直流电弧。

本发明的有益效果：本发明中的一种直流电弧影响分析装置、方法、设备及介质，该装置包括电极控制模块、阳极器皿、导线、电源、信息采集模块和电弧分析模块，电极控制模块包括升降单元、夹持单元和支撑单元；阳极器皿通过导线与电源连接，信息采集模块包括电弧形态采集单元、电量采集单元和磁场信息采集单元，信息采集模块将采集到的信息发送至电弧分析模块，电弧分析模块基于得到的信息确定直流电弧影响因素对直流电弧的影响方向和数值影响水平。通过夹持单元夹持电极向阳极器皿靠近，以产生直流电弧，并通过信息采集模块采集直流电弧的形态信息、弧流弧压及磁场信息，通过电弧分析模块基于采集的信息得到直流电弧影响因素对直流电弧得到影响方向和数值影响水平，为有效定量分析不同影响因素对直流电弧的干扰影响提供解决装置和方法，通过该装置可以有效掌握直流电弧的动态特性，评估不同外界影响因素对直流电弧燃烧的影响，更好掌握直流电弧炉的冶炼特性。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本发明。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本发明的实施例，并与说明书一起用于解释本发明的原理。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术者来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。在附图中：

图1是本发明的一示例性实施例示出的直流电弧影响因素分析系统示意图；

图2是本发明的一示例性实施例示出的直流电弧影响因素分析装置的框图；

图3是本发明的一示例性实施例示出的直流电弧影响因素分析方法流程示意图；

图4是本发明的一示例性实施例示出的直流电弧影响因素分析操作流程示意图；

图5示出了适于用来实现本发明实施例的电子设备的计算机系统的结构示意图。

具体实施方式

以下将参照附图和优选实施例来说明本发明的实施方式，本领域技术人员可由本说明书中所揭露的内容轻易地了解本发明的其他优点与功效。本发明还可以通过另外不同的具体实施方式加以实施或应用，本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用，在没有背离本发明的精神下进行各种修饰或改变。应当理解，优选实施例仅为了说明本发明，而不是为了限制本发明的保护范围。

需要说明的是，以下实施例中所提供的图示仅以示意方式说明本发明的基本构想，遂图式中仅显示与本发明中有关的组件而非按照实际实施时的组件数目、形状及尺寸绘制，其实际实施时各组件的型态、数量及比例可为一种随意的改变，且其组件布局型态也可能更为复杂。

在下文描述中，探讨了大量细节，以提供对本发明实施例的更透彻的解释，然而，对本领域技术人员来说，可以在没有这些具体细节的情况下实施本发明的实施例是显而易见的，在其他实施例中，以方框图的形式而不是以细节的形式来示出公知的结构和设备，以避免使本发明的实施例难以理解。

首先需要说明的是，现有直流电弧炉在冶炼时极易收到电源输出功率、短网路由、电极尺寸、电极数量及间距等外界因素的干扰，在多外界因素作用下的直流电弧炉工作存在偏弧严重，热效率不高等问题，但是相关技术中并没有方法有效定量分析不同影响因素对直流电弧的干扰影响，严重阻碍直流电弧炉的推广运行。为解决这些问题，本发明的实施例分别提出一种直流电弧影响因素分析装置、一种直流电弧影响因素分析方法、一种电子设备、一种计算机可读存储介质，以下将对这些实施例进行详细描述。

请参见图1，图1是本发明的一示例性实施例示出的直流电弧影响因素分析系统示意图，该直流电弧影响因素分析系统包括升降操作连杆101、电极夹102、电极103、支撑立柱104、阳极器皿105、导线106、电源107、信息采集仪器108。该系统通过电极夹102夹持电极向阳极器皿105靠近，以产生直流电弧。电极夹102固定在支撑立柱104上面，支撑立柱104通过机械部件与升降操作连杆101连接。升降操作连杆101通过旋转把手改变与支撑立杆104之间的螺纹咬合方式，控制支撑立杆104上升或下降，以使电极夹102带着电极向阳极器皿105靠近，以产生直流电弧。

需要理解的是机械部件为轴，是穿在轴承中间或车轮中间或齿轮中间的圆柱形物件，但也有少部分是方型的。轴是支撑转动零件并与之一起回转以传递运动、扭矩或弯矩的机械零件。一般为金属圆杆状，各段可以有不同的直径。机器中作回转运动的零件就装在轴上。

将预设电极数量的电极通过电极夹102夹持，并通过升降操作连杆101向阳极器皿靠近以产生直流电弧，通过信息采集仪器108采集此时的电弧形态、弧压、弧流和磁场信息，将采集的信息作为初始特征指标。将电极数量、电极间距、导线走线方式和电源输出功率中至少一个确定为直流电弧的影响因素，选择一个影响因素作为测试因素，只改变测试因素的特征，保持其他影响因素不变后，再通过信息采集仪器108采集改变后的电弧形态、弧压、弧流和磁场信息作为测试特性指标。基于得到的初始特性指标和测试特性指标得到选择的测试因素对直流电弧的影响方向和数值影响水平。

在本实施例中，若测试因素为电极数量，则改变电极的数量；若测试因素为电极间距，则改变电极间距；若测试因素为导线走线方式，则改变的导线在空间三维上的布置方式；若测试因素为电源输出功率，则改变电源的输出功率。

请参见图2，图2是本发明一示例性实施例示出的直流电弧影响因素分析装置的框图，该直流电弧影响因素分析装置包括电极控制模块201、阳极器皿202、信息采集模块203、电弧分析模块204。

电极控制模块201包括升降单元、夹持单元和支撑单元，升降单元用于控制电极向阳极器皿靠近，以产生直流电弧，夹持单元用于调整电极数量和电极间距，支撑单元用于连接升降单元和夹持单元；在本实施例中，夹持单元可以是电极夹，或者其他可以将电极固定在支撑单元上的机械部件。本实施例中的支撑单元为支撑立柱，通过螺纹咬合的方式与升降单元连接。

阳极器皿202通过导线与电源连接，本实施例中的阳极器皿202为圆形或椭圆形结构，中心部分向内凹陷的碗状结构，可以盛放一定数量的金属物料在里面，该阳极器皿202的材质为铁，底部设计有接线口，接线口与导线相连接，导线为裸露的硬铜线，该导线可以任意弯折，以改变导线在空间三维方向上的布置方式，与阳极器皿202底部接线口连接的导线作为阳极导线，阳极导线可以设置为一根或者多根。

信息采集模块203包括电弧形态采集单元、电量采集单元和磁场信息采集单元，电弧形态采集单元用于采集直流电弧的电弧形态，电量采集单元用于采集直流电弧的弧压和弧流，磁场信息采集单元用于采集直流电弧的磁场信息；本实施例中的电弧形态采集单元可以是摄像机、录影机或其他图像采集装置，电量采集单元可以是电量采集分析仪，磁场信息采集单元可以是磁场特性分析设备。

需要说明的是电量采集分析仪可以是电流测试仪，电流测试仪测量范围广，共有二十个量程，能分别测量交直流杂散电压和杂散电流，本身不需要电源，安全可靠。适宜测试煤矿井下钢轨、水管、电缆等产生的电流及电压，预防杂散电流放电引起的电雷管早爆及其它燃爆事故，使矿内火源降至最低限度，并且电流测试仪为多量程保护电路的便携式整流仪表；磁场特性分析设备包括磁场强度测试仪和磁场测试仪，磁场强度测试仪采用流行的单片微处理器技术和高分辨率、高线性的霍尔效应器件，具有设计先进、操作简单、方便，测量精度高，作用多样化等特点，广泛应用于各种磁性器件的表面场测试；磁场测试仪采用电子积分器原理，应用不同的感应线圈，测量各种永磁体的感应磁通值大小的专用仪器。可对磁性材料性能进行检测，不仅可测量磁通量值，还可以对磁性产品在工作状态下的磁性能进行直接检测。

电弧分析模块204接收信息采集模块采集的信息，基于电弧形态得到直流电弧影响因素对直流电弧的影响方向，基于弧压、弧流和磁场信息得到直流电弧影响因素对直流电弧的数值影响水平。在本实施例中，通过信息采集模块203采集初始弧压、初始弧流、初始磁场信息和初始电弧形态，并将一个影响因素确定为测试因素，改变该测试因素的特征且保持其他影响因素不变的情况下，通过信息采集模块203采集测试弧压、测试弧流、测试磁场信息和测试电弧形态。通过比对初始电弧形态和测试电弧形态确定测试因素对直流电弧的燃烧形态的影响方向，通过比对初始弧压、测试弧压、初始弧流、测试弧流、初始磁场信息和测试磁场信息确定测试因素对直流电弧的燃烧热效率的数值影响水平。

在本发明的一个实施例中，支撑单元包括支撑立柱，升降操作连杆通过机械部件与支撑立柱连接；电极夹固定在支撑立杆上，通过调节电极夹的松紧程度，以夹持不同直径的电极，在本实施例中通过调节电极夹的松紧程度可以提高装置的适用性，同时还可以将电极直径确定为影响因素，通过改变电极直径，保持其他影响因素不变，得到电极直径对直流电弧的影响方向和数值影响水平。

在本发明的一个实施例中，升降操作连杆通过旋转把手改变与支撑立杆之间的螺纹咬合方式，以控制支撑立柱上升或下降。

在本发明的一个实施例中，电源的工作模式包括恒功率输出模式、恒电压输出模式和恒电流输出模式。

需要理解的是，恒功率输出模式为输出的功率恒定的模式；恒电压输出模式为是指负载的电流值在额定范围内变化，而直流电源供应器的输出电压保持稳定的工作模式，即当负载改变而导致输出电流变化时，输出电压仍维持在设定的电压值并保持不变；恒电流输出模式为直流负载的电阻值在额定范围内变化，而直流电源供应器的输出电流持稳定的工作模式，即当负载的电阻值改变而导致输出电压变化时，输出电流仍维持在设定的电流值并保持不变。

请参见图3，图3是本发明一示例性实施例示出的直流电弧影响因素分析方法流程示意图，在一示例性实施例中，直流电弧影响因素分析方法至少包括步骤S310至步骤S330，详细介绍如下：

步骤S310，获取直流电弧的初始特性指标，直流电弧的影响因素包括电极数量、电极间距、导线走线方式和电源输出功率中至少之一。

通过上述各实施例中任一所述的直流电弧影响因素分析装置获取直流电弧的初始特性指标，初始特性指标包括初始电弧形态、初始弧压、初始弧流、初始磁场信息。

在本发明的另一实施例中，直流电弧的影响因素还包括电极直径。

步骤S320，将一个影响因素确定为测试因素，改变测试因素的特征后，采集直流电弧的测试特性指标。

将影响因素中的一个确定为测试因素，改变测试因素的特征，同时保证其他的影响因素不发生改变后，通过上述各实施例中任一所述的直流电弧影响因素分析装置获取改变后的直流电弧的测试特性指标。

在本发明的一个实施例中，改变测试因素的特征包括，若测试因素为电极数量，则改变夹持单元中的电极数量；若测试因素为电极间距，则改变电极间距；若测试因素为导线走线方式，则改变导线在空间三维上的布置方式；若测试因素为电源输出功率，则改变电源的输出功率。

步骤S330，基于初始特性指标和测试特性指标，得到测试因素对直流电弧的影响方向和数值影响水平。

基于初始电弧形态和测试电弧形态，得到测试因素对直流电弧燃烧特性的影响方向，初始特性指标包括初始电弧形态、初始弧压、初始弧流及初始磁场信息，测试特性指标包括测试电弧形态、测试弧压、测试弧流及测试磁场信息；

基于初始弧压、初始弧流、初始磁场信息、测试弧压、测试弧流及测试磁场信息，得到测试因素对直流电弧热效率的数值影响水平。

在本实施例中，通过比对初始弧压和测试弧压、初始弧流和测试弧流、初始磁场信息和测试磁场信息得到测试因素改变前后的数值影响水平，若改变后的数值变高，则为积极改变，若改变后数值变低，则为负面改变。

在本发明的一个实施例中，通过比对初始电弧形态和测试电弧形态的形态改变和燃烧位置，得到测试因素对直流电弧燃烧特性的影响方向，在本实施例中通过确定对电弧形态改变有关的影响因素，可以为实际工程确定电弧形态提供技术理论支撑。

在本发明的一个实施例中，通过磁场信息得到直流电弧的磁感应强度，计算方式如下：

B＝μ

在式(1)中，B为磁感应强度，μ

在本发明的一个实施例中，通过上述实施例中确定的磁感应强度可以得到直流电弧在空间中所受到的安培力，计算方式如下：

F＝BILsinα 式(2)

在式(2)中，F为直流电弧所受到的安培力，B为磁感应强度，I为弧流，α是弧流与磁场方向在空间上的夹角。

在本发明的一个实施例中，获取直流电弧的初始指标之前，还包括：将预设电极数量的电极通过导线与电源相连，将电极间距设置为预设间距，将阳极器皿通过导线与电源相连；将导线走线方式布置成预设走线方式；将电源输出功率设置为预设输出功率，打开电源；通过电极控制模块将电极向阳极器皿靠近以产生直流电弧。本实施例中的预设电极数量、预设间距和预设走线方式皆为本领域工作人员根据实际情况预设的一个初始状态，并不对本发明起限制性作用。

在本发明的一个实施例中，基于磁场信息得到磁感应强度；根据磁感应强度、弧流和弧压得到磁场力；基于磁场力的改变得到测试因素对直流电弧的数值影响水平。

在本发明的一个实施例中，基于测试因素对直流电弧的影响方向和数值影响水平确定影响因素的目标特征集，本实施例中的目标特征集中的参数均为在测试过程中，直流电弧最佳燃烧状态对应得到测试因数的特征。采集直流电弧炉的当前生产数据，当前生产数据包括当前电极数量、当前电极间距、当前走线方式和当前电源输出功率；根据目标特征集对当前生产数据进行调整，以提升调整后的直流电弧炉热燃烧效率的数值水平。

请参见图4，图4是本发明的一示例性实施例示出的直流电弧影响因素分析操作流程示意图，该操作流程包括，确定安装电极数量，例如先通过电极夹夹持2个电极，本实施例中电极数量仅做示例示出，不对本发明做进一步限定。夹持好电极数量后，布置导线空间走线方式，设定直流电源的输出功率，通过升降操作连杆控制电极移动，使电极向阳极器皿靠近以产生直流电弧，采集产生的直流电弧的弧压、弧流数值作为初始弧压和初始弧流，测验直流电弧的磁场分布及强度作为初始磁场信息，观察直流电弧的电弧形态作为初始电弧形态。改变电源输出功率、导线布置方式、电极间距其中一个参数，将改变的参数确定为测试因素，并保持其他参数不变后继续通过升降操作连杆控制电极移动，使电极向阳极器皿靠近以产生直流电弧，采集此时的直流电弧的弧压、弧流数值作为测试弧压和测试弧流，测验此时的直流电弧的磁场分布及强度作为测试磁场信息，观察此时的直流电弧的电弧形态作为测试电弧形态。重复以上操作，得到多个测试因素对应的多组测试数据，

结合采集的初始弧压、测试弧压、初始弧流、测试弧流、初始磁场信息、测试磁场信息、初始电弧形态和测试电弧形态结合理论结算结果分析外界参数变化对直流电弧的影响。

需要说明的是，上述实施例所提供的直流电弧影响因素分析装置与上述实施例所提供的直流电弧影响因素分析方法属于同一构思，其中各个模块和单元执行操作的具体方式已经在方法实施例中进行了详细描述，此处不再赘述。上述实施例所提供的直流电弧影响因素分析装置在实际应用中，可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能模块完成，即将装置的内部结构划分成不同的功能模块，以完成以上描述的全部或者部分功能，本处也不对此进行限制。

本发明的实施例还提供了一种电子设备，包括：一个或多个处理器；存储装置，用于存储一个或多个程序，当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行时，使得所述电子设备实现上述各个实施例中提供的直流电弧影响因素分析方法。

图5示出了适于用来实现本发明实施例的电子设备的计算机系统的结构示意图。需要说明的是，图5示出的电子设备的计算机系统500仅是一个示例，不应对本发明实施例的功能和使用范围带来任何限制。

如图5所示，计算机系统500包括中央处理单元(Central Processing Unit，CPU)501，其可以根据存储在只读存储器(Read-OnlyMemory，ROM)502中的程序或者从储存部分508加载到随机访问存储器(Random Access Memory，RAM)503中的程序而执行各种适当的动作和处理，例如执行上述实施例中所述的方法。在RAM 503中，还存储有系统操作所需的各种程序和数据。CPU 501、ROM 502以及RAM 503通过总线504彼此相连。输入/输出(Input/Output，I/O)接口505也连接至总线504。

以下部件连接至I/O接口505：包括键盘、鼠标等的输入部分506；包括诸如阴极射线管(Cathode Ray Tube，CRT)、液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)等以及扬声器等的输出部分507；包括硬盘等的储存部分508；以及包括诸如LAN(Local AreaNetwork，局域网)卡、调制解调器等的网络接口卡的通信部分509。通信部分509经由诸如因特网的网络执行通信处理。驱动器510也根据需要连接至I/O接口505。可拆卸介质511，诸如磁盘、光盘、磁光盘、半导体存储器等等，根据需要安装在驱动器510上，以便于从其上读出的计算机程序根据需要被安装入储存部分508。

特别地，根据本发明的实施例，上文参考流程图描述的过程可以被实现为计算机软件程序。例如，本发明的实施例包括一种计算机程序产品，其包括承载在计算机可读介质上的计算机程序，该计算机程序包含用于执行流程图所示的方法的计算机程序。在这样的实施例中，该计算机程序可以通过通信部分509从网络上被下载和安装，和/或从可拆卸介质511被安装。在该计算机程序被中央处理单元(CPU)501执行时，执行本发明的系统中限定的各种功能。

需要说明的是，本发明实施例所示的计算机可读介质可以是计算机可读信号介质或者计算机可读存储介质或者是上述两者的任意组合。计算机可读存储介质例如可以是电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的系统、装置或器件，或者任意以上的组合。计算机可读存储介质的更具体的例子可以包括但不限于：具有一个或多个导线的电连接、便携式计算机磁盘、硬盘、随机访问存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦式可编程只读存储器(Erasable Programmable Read Only Memory，EPROM)、闪存、光纤、便携式紧凑磁盘只读存储器(Compact Disc Read-Only Memory，CD-ROM)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。在本发明中，计算机可读的信号介质可以包括在基带中或者作为载波一部分传播的数据信号，其中承载了计算机可读的计算机程序。这种传播的数据信号可以采用多种形式，包括但不限于电磁信号、光信号或上述的任意合适的组合。计算机可读的信号介质还可以是计算机可读存储介质以外的任何计算机可读介质，该计算机可读介质可以发送、传播或者传输用于由指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用的程序。计算机可读介质上包含的计算机程序可以用任何适当的介质传输，包括但不限于：无线、有线等等，或者上述的任意合适的组合。

附图中的流程图和框图，图示了按照本发明各种实施例的系统、方法和计算机程序产品的可能实现的体系架构、功能和操作。其中，流程图或框图中的每个方框可以代表一个模块、程序段、或代码的一部分，上述模块、程序段、或代码的一部分包含一个或多个用于实现规定的逻辑功能的可执行指令。也应当注意，在有些作为替换的实现中，方框中所标注的功能也可以以不同于附图中所标注的顺序发生。例如，两个接连地表示的方框实际上可以基本并行地执行，它们有时也可以按相反的顺序执行，这依所涉及的功能而定。也要注意的是，框图或流程图中的每个方框、以及框图或流程图中的方框的组合，可以用执行规定的功能或操作的专用的基于硬件的系统来实现，或者可以用专用硬件与计算机指令的组合来实现。

描述于本发明实施例中所涉及到的单元可以通过软件的方式实现，也可以通过硬件的方式来实现，所描述的单元也可以设置在处理器中。其中，这些单元的名称在某种情况下并不构成对该单元本身的限定。

本发明的另一方面还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被计算机的处理器执行时，使计算机执行如前所述的直流电弧影响因素分析方法。该计算机可读存储介质可以是上述实施例中描述的电子设备中所包含的，也可以是单独存在，而未装配入该电子设备中。

本发明的另一方面还提供了一种计算机程序产品或计算机程序，该计算机程序产品或计算机程序包括计算机指令，该计算机指令存储在计算机可读存储介质中。计算机设备的处理器从计算机可读存储介质读取该计算机指令，处理器执行该计算机指令，使得该计算机设备执行上述各个实施例中提供的直流电弧影响因素分析方法。

上述实施例仅示例性说明本发明的原理及其功效，而非用于限制本发明。任何熟悉此技术的人士皆可在不违背本发明的精神及范畴下，对上述实施例进行修饰或改变。因此，但凡所属技术领域中具有通常知识者在未脱离本发明所揭示的精神与技术思想下所完成的一切等效修饰或改变，仍应由本发明的权利要求所涵盖。