首页> 中国专利> 一种高反射率零件图像的自适应耀光抑制方法

一种高反射率零件图像的自适应耀光抑制方法

摘要

本发明公开了一种高反射率零件图像的自适应耀光抑制方法,涉及智能制造和数字图像处理技术领域,旨在解决多次不同角度的采集会导致采集信息冗余,增加后端信息存储、处理难度,提高信息处理成本,降低生产效率的技术问题,采用的技术方案是,采集高反射率零件图片;求得自适应分隔因子;将原始图像分割成图像块,并求得图像块的均值与原始图像均值的差值;制得背景矩阵;将背景矩阵插值为矩阵;原始图像减去插值后的图像即为耀光抑制后的图像;将高反射率零件的图像采集由传统的多角度拍照和多角度打光抑制耀光方式转变为通过图像处理算法抑制耀光,减少了采集系统的自动化流程节拍,降低了后端信息存储冗余、提高信息处理效率。

著录项

  • 公开/公告号CN115809972A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2023-03-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 电子科技大学;

    申请/专利号CN202211466463.8

  • 申请日2022-11-22

  • 分类号G06T5/50;G01N21/88;

  • 代理机构北京金智普华知识产权代理有限公司;

  • 代理人张晓博

  • 地址 611731 四川省成都市高新西区西源大道2006号

  • 入库时间 2023-06-19 18:51:21

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-03-17

    公开

    发明专利申请公布

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号