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一种大面积、高度均匀有序量子点阵列制造方法

摘要

本发明涉及一种大面积、高度均匀有序量子点阵列制造方法。其方法为:它采用软紫外纳米压印光刻UV-NIL和感应耦合等离子体刻蚀ICP工艺在衬底上制备出纳米孔图形阵列;以制备的图形化衬底为模板,使用金属有机化学气相沉积系统MOCVD自组织生长量子点。本发明实现了大面积、高度均匀有序量子点阵列的低成本、一致性和批量化制备,可应用于量子点激光器、量子点存储器、量子点太阳能电池、量子点LED、单光子发射器等器件的制造。

著录项

  • 公开/公告号CN101830430B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-03-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 山东大学;

    申请/专利号CN201010179562.9

  • 申请日2010-05-24

  • 分类号B82B3/00(20060101);

  • 代理机构37221 济南圣达知识产权代理有限公司;

  • 代理人张勇

  • 地址 250061 山东省济南市历下区经十路17923号

  • 入库时间 2022-08-23 09:13:51

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-07-08

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):B82B 3/00 授权公告日:20130327 终止日期:20140524 申请日:20100524

    专利权的终止

  • 2013-03-27

    授权

    授权

  • 2010-11-03

    实质审查的生效 IPC(主分类):B82B 3/00 申请日:20100524

    实质审查的生效

  • 2010-09-15

    公开

    公开

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