首页> 中国专利> 全反射衰减型远紫外分光法及使用其的浓度测量装置

全反射衰减型远紫外分光法及使用其的浓度测量装置

摘要

在使用衰减的全反射的远紫外分光法中,通过使用全反射光的衰减波来测量全反射光。其穿透深度在远紫外范围内的波长范围内等于或大于150nm,其中穿透深度取决于远紫外光的波长、待测量对象的折射率、所述探针的光学材料的折射率以及远紫外光在探针与对象的界面处的入射角。全反射衰减型探针由光学材料制成,所述光学材料被选择为使得穿透深度在远紫外波长范围内等于或高于150nm,并且所述探针与待测量对象在界面处进行接触,并且在所述波长范围内远紫外光以大于临界角的入射角入射在界面上,以便使穿透深度等于或高于150nm。测量来自界面的全反射光并且确定待测量对象的吸光率。

著录项

  • 公开/公告号CN101960292B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-04-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 仓敷纺绩株式会社;

    申请/专利号CN200980107696.5

  • 发明设计人 东升;苅山直美;池羽田晶文;

    申请日2009-03-03

  • 分类号

  • 代理机构中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人刘金凤

  • 地址 日本冈山县

  • 入库时间 2022-08-23 09:13:53

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-04-29

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 21/27 授权公告日:20130403 终止日期:20140303 申请日:20090303

    专利权的终止

  • 2013-04-03

    授权

    授权

  • 2011-03-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/27 申请日:20090303

    实质审查的生效

  • 2011-01-26

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号