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一种基于随机过程的小卫星寿命评估方法及系统

摘要

本发明一种基于随机过程的小卫星寿命评估方法及系统。首先,本发明利用FTA分析结果,确定影响小卫星寿命的一阶及二阶故障割集。其次,利用FMEA分析方法,确定一阶及二阶割集中的所有故障的类型,对于随机故障,采用泊松过程数学模型描述随机故障过程,对于退化故障,采用维纳过程数学模型描述退化故障过程。根据小卫星产品的实际失效数据确定泊松过程数学模型参数及维纳过程数学模型参数。结合小卫星产品的故障模型,利用进程交互仿真方法,对小卫星的寿命进行仿真,根据仿真结果统计平均值,确定小卫星寿命。

著录项

  • 公开/公告号CN115455647A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-12-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 航天东方红卫星有限公司;

    申请/专利号CN202210934490.7

  • 申请日2022-08-04

  • 分类号G06F30/20;G06F17/18;G06K9/62;G06F119/02;G06F111/08;G06F119/04;

  • 代理机构中国航天科技专利中心;

  • 代理人张晓飞

  • 地址 100094 北京市海淀区北京5616信箱

  • 入库时间 2023-06-19 17:53:19

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-12-09

    公开

    发明专利申请公布

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