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一种宽带非接触太赫兹近场显微系统

摘要

本发明公开了一种宽带非接触太赫兹近场显微系统,属于非接触测试技术领域。包括矢量网络分析主机、以及分别与矢量网络分析主机相连接的一号太赫兹S参数测试模块和二号太赫兹S参数测试模块,一号太赫兹S参数测试模块的输出端口连接输入耦合器,二号太赫兹S参数测试模块的输出端口连接输出耦合器,输入耦合器输出参考信号支路和测试信号支路,参考信号支路和测试信号支路输入至输出耦合器,由输出耦合器将参考信号支路和测试信号支路合为一路;测试信号支路上设置有可调耦合谐振近场探针,可调耦合谐振近场探针用于对样品进行近场探测。本发明可以实现微观尺度下待测物质介电属性微小变化的宽带探测,在宽频带内实现探测灵敏度的提高。

著录项

  • 公开/公告号CN115389453A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-11-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN202211065908.1

  • 申请日2022-09-01

  • 分类号G01N21/3586;

  • 代理机构济南圣达知识产权代理有限公司;

  • 代理人任欢

  • 地址 266555 山东省青岛市经济技术开发区香江路98号

  • 入库时间 2023-06-19 17:45:13

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-11-25

    公开

    发明专利申请公布

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