公开/公告号CN115371961A
专利类型发明专利
公开/公告日2022-11-22
原文格式PDF
申请/专利权人 上海微觅医疗器械有限公司;
申请/专利号CN202110539160.3
申请日2021-05-18
分类号G01M11/02;G06T7/00;
代理机构北京三友知识产权代理有限公司;
代理人童磊;周达
地址 201203 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区张东路1601号1幢2层207室(实际楼层3层)
入库时间 2023-06-19 17:40:19
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2022-11-22
公开
发明专利申请公布
机译: 光学三维形状测量装置的空间测量误差检测装置,空间测量误差检测方法和校正方法,光学三维形状测量装置,光学三维形状测量装置的空间测量误差校准方法,公式式三维形状测量装置探测性能检验用光学平面标准
机译: 光三维形状测量装置的空间测量误差检查装置,检测空间测量误差的方法,校正方法,光学三维形状测量装置,光学三维形状测量装置的空间测量误差校准方法,以及平面标准 光学三维形状测量装置的光学性能检查
机译: 用于检测光学系统的视觉和光学性能的组合检测器以及用于光学系统的相关测试装置