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一种基模高斯激光远场发散角测试方法及机构

摘要

本发明公开了一种基摸高斯激光远场发散角测试方法及机构,属于激光通信系统测试技术领域,本发明基摸高斯激光远场发散角测试机构包括:承载镜筒的方位俯仰调整台、设置在方位俯仰调整台一侧用于衰减待测激光的光衰减器;以及设置在方位俯仰调整台另一侧的自准直仪;镜筒位于自准直仪侧安装有红外相机、镜筒位于光衰减器侧安装有施密特校正板;待测激光光路经过光衰减器、施密特校正板后入射到镜筒内、并在镜筒内依次经过主镜、次镜反射后打到红外相机靶面,且次镜设置在主镜位于施密特校正板侧,本发明基于施密特‑卡塞格林成像镜头,具有测量精度高、口径大、焦距长,有利于减轻衍射对测量结果的影响;结构紧凑、测量时装调难度低的有益效果。

著录项

  • 公开/公告号CN115356088A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-11-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN202211155913.1

  • 发明设计人 马烈;张国强;高世杰;

    申请日2022-09-22

  • 分类号G01M11/02;

  • 代理机构长春众邦菁华知识产权代理有限公司;

  • 代理人王婷婷

  • 地址 130033 吉林省长春市东南湖大路3888号

  • 入库时间 2023-06-19 17:38:41

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-11-18

    公开

    发明专利申请公布

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