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基于超声C扫描数字图像处理的试件完好率检测方法

摘要

本发明涉及一种基于超声C扫描数字图像处理的试件完好率检测方法,其包括以下步骤,步骤一:读取并处理被测试件的图像数据,获得被测试件对应的二维波幅数据;步骤二:对被测试件的二维波幅数据进行预处理和矫正;步骤三:判断被测试件是否检测到结构特征,获得被测试件的完好率,本方法通过超声C扫描被测试件得到缺陷详细信息,进一步根据试件的结构特征确定了试件完好率检测方式,完成了完好率的计算。本发明提出的试件完好率分析方法可对有无结构特征试件进行缺陷分析,计算被测试件的完好率,具有准确度高、适用性广的特点,为图像缺陷分析提供了有效解决途径。

著录项

  • 公开/公告号CN115343365A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-11-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国航空综合技术研究所;

    申请/专利号CN202210969536.9

  • 申请日2022-08-12

  • 分类号G01N29/06;G01N29/44;

  • 代理机构北京孚睿湾知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人韩燕

  • 地址 100028 北京市朝阳区东直门外京顺路7号

  • 入库时间 2023-06-19 17:37:04

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-11-15

    公开

    发明专利申请公布

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