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测量钙-41同位素丰度的原子阱痕量分析系统及测量方法

摘要

本发明提供了一种测量钙‑41同位素丰度的原子阱痕量分析系统。分光及调制单元将423nm激光产生单元产生的测量激光分为第一囚禁激光、第二囚禁激光和第三囚禁激光;453nm激光产生单元产生回泵激光。金属钙样品在原子炉内形成包括钙‑41原子和钙‑43原子的钙原子束;原子束挡板在打开状态的情况下,钙原子束进入磁光阱;磁光阱利用第一囚禁激光、第二囚禁激光和第三囚禁激光囚禁钙‑41原子和钙‑43原子,并使钙‑41原子和钙‑43原子发出荧光,利用回泵激光延长钙‑41原子和钙‑43原子的囚禁时间。通过对磁光阱中被囚禁的钙‑41原子和钙‑43原子发出的荧光进行探测,实现对钙‑41同位素丰度的测量。本发明还提供了一种测量钙‑41同位素丰度的原子阱痕量分析测量方法。

著录项

  • 公开/公告号CN115201172A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-10-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学技术大学;

    申请/专利号CN202210904437.2

  • 申请日2022-07-29

  • 分类号G01N21/64;

  • 代理机构中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人吴梦圆

  • 地址 230026 安徽省合肥市包河区金寨路96号

  • 入库时间 2023-06-19 17:14:18

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-10-18

    公开

    发明专利申请公布

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