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基于齿轮特征线统一模型的齿轮接触线测量与评价方法

摘要

本发明公开了基于齿轮特征线统一模型的齿轮接触线测量与评价方法,包括:建立齿轮特征线统一模型;建立基于齿轮特征线统一模型下的齿轮接触线模型;基于齿轮特征线统一模型下测量齿轮接触线;定义齿轮接触线评价指标;齿轮接触线误差计算;齿轮接触线误差质量评价。该方法在传统渐开线测量的基础上增加沿齿轮轴向的运动,或者是在传统螺旋线测量的基础上增加沿齿轮径向的运动。该方法定义齿轮接触线的评价指标和符号:接触线总偏差、接触线形状偏差、接触线倾斜偏差,为后续的齿面质量评价提供基础。该方法基于测得的齿轮接触线,根据计算得到的偏差值和接触线本身的公差值来计算左右齿面的质量等级,进而评定齿面质量。

著录项

  • 公开/公告号CN115164808A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-10-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京工业大学;

    申请/专利号CN202210693859.X

  • 发明设计人 石照耀;吕浩;孙衍强;

    申请日2022-06-19

  • 分类号G01B21/20;G06F17/18;G06F30/17;

  • 代理机构北京思海天达知识产权代理有限公司;

  • 代理人王兆波

  • 地址 100124 北京市朝阳区平乐园100号

  • 入库时间 2023-06-19 17:06:09

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-10-11

    公开

    发明专利申请公布

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