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一种测量毫米波反射面样品反射损耗的方法

摘要

本发明公开了一种测量毫米波反射面样品反射损耗的方法。本发明首先将标准增益喇叭指向天顶方向,喇叭口放置微波吸波材料制作的常温负载,用频谱分析仪测量系统输出的归一化噪声功率的大小;然后将标准增益喇叭水平放置在金属反射器内,喇叭口前方依次放置与水平方向成45°角的金属样板、待测样品和吸波材料屏,用频谱分析仪分别测量出系统输出的归一化噪声功率的大小;最后,由测量的归一化噪声功率,计算毫米波反射面样品的反射损耗。本发明的方法简单可行,具有推广和应用价值。

著录项

  • 公开/公告号CN115128357A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-09-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN202210722878.0

  • 发明设计人 秦顺友;

    申请日2022-06-24

  • 分类号G01R27/26;

  • 代理机构河北东尚律师事务所;

  • 代理人王文庆

  • 地址 050081 河北省石家庄市中山西路589号第五十四所天伺部

  • 入库时间 2023-06-19 17:01:21

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-09-30

    公开

    发明专利申请公布

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