一种基于功率损耗数学模型及有限元方法的IGBT模块寿命预测方法

摘要

本发明公开了一种基于功率损耗数学模型及有限元方法的IGBT模块寿命预测方法，通过建立IGBT的功率损耗数学模型，计算获得模块功率损耗，借助有限元仿真软件，迭代计算获得芯片结温，进一步获得IGBT模块的整体热应力分布，最后导入nCodeDesignlife软件，实现IGBT模块的寿命预测计算。本发明基于数学解析及有限元仿真的方法，验证过程借助有限元软件完成，而不需要改变或破坏相应器件的内部结构，从而对人力物力的消耗较小。