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散焦深度测量方法、装置、电子设备及存储介质

摘要

本发明涉及散焦深度测量方法、装置、电子设备及存储介质,属于计算机视觉三维空间测量领域。本发明利用焦叠相机的相机参数和散焦图像确定辐射度与深度信息的关联关系,并将该关联关系引入第一目标函数,通过最小化第一目标函数对场景的深度信息进行估计,能够降低辐射度对深度信息测量过程的影响,从而提高散焦深度测量方法的准确性。

著录项

  • 公开/公告号CN115049716A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-09-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 武汉工程大学;

    申请/专利号CN202210475190.7

  • 发明设计人 李晖;陈伟灵;何燕成;

    申请日2022-04-29

  • 分类号G06T7/50;H04N5/232;

  • 代理机构北京轻创知识产权代理有限公司;

  • 代理人厉洋洋

  • 地址 430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷一路206号

  • 入库时间 2023-06-19 16:47:40

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-09-13

    公开

    发明专利申请公布

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