在并行测试机台上实现芯片频率微调的方法

摘要

本发明公开了一种在并行测试机台上实现芯片频率微调的方法，在并行测试机台的程序中将写前一档补正数据向量和读下一档读时间向量合并为一个测试向量，得到多个测试向量，然后并行测试机台依次执行所述多个测试向量，不断循环直到同测对象集合中所有被测的芯片全部失效剔除或到循环结束，最后将为通过状态的硬件寄存器对应的测试通道连接的被测芯片中最后写入的芯片补正数据激活，各被测芯片中的时钟周期微调电路根据最后写入的芯片补正数据对时钟周期进行微调。本发明能对多芯片进行频率同测。