一种基于K-MEANS算法测试产品的方法、系统、设备和存储介质

摘要

本发明提供一种基于K‑MEANS算法测试产品的方法、系统、设备和存储介质，方法包括：根据存储交付的功能特性数确定选取的特性，并从每个选取的特性中随机选取预设数量个样本以组成训练样本集；对所述训练样本集中的样本进行特征选择，从原始样本集中选出一个子集来最小化冗余和最大化与目标的相关性以得到样本子集，并根据样本子集得到样本集合；根据所述样本集合通过K‑MEANS算法进行快速聚类以选出预设数量个聚类中心；以及将所有缺陷聚合到对应的聚类中心中，并根据聚类结果确认缺陷集中的模块。本发明通过K‑MEANS聚类算法进行模块缺陷聚类，寻找缺陷集中的子模块，对精准测试和提高存储系统的可靠性起到关键作用。