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集成电路的汉克尔变换滤波器的采样点舍弃方法及装置

摘要

本发明属于集成电路技术领域,具体公开了一种集成电路的汉克尔变换滤波器的采样点舍弃方法及装置,本方法包括:基于均匀采样获得用于计算集成电路电磁场的格林函数‑汉克尔变换的滤波器系数,根据滤波器系数、滤波器的采样点计算每个采样点的贡献值,根据集成电路层特性设置采样点的保留阈值,基于保留阈值决定需要保留的采样点;基于保留的采样点和对应的滤波器系数及积分核函数,计算相应的贝塞尔积分;本发明通过对采样点的贡献值进行评估,筛选出具有代表性的采样点进行贝塞尔函数积分计算,可以使得计算方便简单,并且计算速度比传统方法计算速度高出一个数量级,通过本方法分析集成电路中的电磁场,可使计算更为快速、计算结果更为准确。

著录项

  • 公开/公告号CN114756807A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-07-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京智芯仿真科技有限公司;

    申请/专利号CN202210682575.0

  • 发明设计人 王芬;

    申请日2022-06-16

  • 分类号G06F17/14;G06F17/16;G06F17/18;G06F17/12;

  • 代理机构北京星通盈泰知识产权代理有限公司;

  • 代理人李筱

  • 地址 100084 北京市海淀区农大南路1号院5号楼306室

  • 入库时间 2023-06-19 16:01:47

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-07-15

    公开

    发明专利申请公布

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