一种密封圈弯曲度和翘曲度的检测装置和检测方法

摘要

本发明涉及密封圈检测装置技术领域，尤其是指一种密封圈弯曲度和翘曲度的检测装置和检测方法。它解决了现有装置不能依次对密封圈进行弯曲度检测和翘曲度检测的问题。它包括检测座、半圆盘、预装杆、驱动机构、检测筒、弯曲检测机构以及翘曲检测机构。本发明便于对待测密封圈进行分类处理，有效提升密封圈的检测和上料效果，便于收集，检测快速，准确度高；通过设置的预装杆便于对密封圈的移动进行引导，避免待测密封圈撞击检测通道的内壁，加快密封圈的流动速度，可依次对密封圈进行弯曲度检测和翘曲度检测，降低了对密封圈的检测成本，提高了检测效果。

说明书

技术领域

本发明涉及密封圈检测装置技术领域，尤其是指一种密封圈弯曲度和翘曲度的检测装置和检测方法。

背景技术

对机械设备等部件进行连接时，经常会通过密封圈进行密封。比如密封圈装配在螺栓机构的堵头上对孔进行密封，胶密封圈因其良好的密封性能，作为密封用基础零件已得到广泛应用。针对装配对象形状不同，密封圈的形状也各式各样，目前市场上存在比较多的是针对无正反面的密封圈的装配设备，如圆环形密封圈和回转体配件的装配，装配时，对密封圈的正反状态没有要求。

通常密封圈需要进行弯曲度和翘曲度检测，以满足密封圈的实际加工需要。但是，现有的装置不能依次对密封圈进行弯曲度检测和翘曲度检测，提高了对密封圈的检测成本，从而降低了检测效果。

发明内容

本发明是提供一种密封圈弯曲度和翘曲度的检测装置和检测方法，便于对待测密封圈进行分类处理，有效提升密封圈的检测和上料效果，便于收集，检测快速，准确度高；通过设置的预装杆便于对密封圈的移动进行引导，避免待测密封圈撞击检测通道的内壁，加快密封圈的流动速度，可依次对密封圈进行弯曲度检测和翘曲度检测，降低了对密封圈的检测成本，提高了检测效果。

为了解决上述技术问题，本发明采用如下技术方案：

一种密封圈弯曲度和翘曲度的检测装置，包括检测座，所述检测座上设有两个相向设置的半圆盘，所述半圆盘的侧面顶部开设有放置口，所述放置口的边缘处开设有预装口，当两个所述半圆盘合并时该两个预装口构成预装孔，所述预装孔内设有用于穿设密封圈的预装杆，所述检测座上设有用于驱动两个半圆盘同步沿相反相向运动的驱动机构，所述检测座上还设有检测筒，所述检测筒上开设有与放置口正对设置的检测通道，所述预装杆的底端伸入检测通道内，所述检测筒上设有用于检测密封圈弯曲度的弯曲检测机构，所述检测筒和弯曲检测机构之间还设有翘曲检测机构。

进一步地，所述驱动机构包括电缸、导轨、驱动架以及驱动槽，所述电缸设于检测座上，所述导轨设于检测座上并与电缸平行，所述驱动架的中部与电缸的输出端固连，所述驱动架的两端分别滑动连接于导轨上，所述驱动架的两端处具有驱动柱，所述驱动槽的数量为两个并对称开设于半圆盘的底部，所述驱动槽呈V型结构且该V型的尖端处朝向预装口，该V型的两端处连线与导轨的延伸方向平行，所述驱动柱滑动配合于驱动槽内，当所述驱动柱移动至该驱动槽的尖端处时，所述密封圈掉入检测通道内。

进一步地，所述弯曲检测机构包括弯曲筒、弯曲孔、非弯口以及转动组件，所述弯曲筒与检测筒的底端转动连接，所述弯曲孔同轴开设于弯曲筒的底部，所述弯曲孔与密封圈的额定检测直径相同，并且该额定检测直径与密封圈的最小直径，所述弯曲筒的内壁中部开设有下小上大的离心弧面，所述非弯口贯穿开设于该离心弧面上，所述转动组件设于弯曲筒和翘曲检测机构之间并用于带动弯曲筒转动。

进一步地，所述转动组件包括转动电机、转动齿轮以及连接齿轮，所述转动电机的安装端固连于翘曲检测机构上，所述转动电机的输出端与转动齿轮同轴固连，所述连接齿轮同轴固连于弯曲筒的外侧，所述转动齿轮与连接齿轮固连。

进一步地，所述翘曲检测机构包括翘曲筒、翘曲腔、翘曲口、次品口、翘曲块以及升降组件，所述翘曲筒与弯曲筒转动连接，所述转动电机的安装端固连于翘曲筒上，所述翘曲腔的顶端具有与弯曲孔对应的翘曲孔，所述翘曲口倾斜贯穿开设于翘曲腔的侧壁，所述翘曲口的底端朝向翘曲筒外，所述翘曲块的顶面倾斜设置并与翘曲口的底面齐平，所述次品口贯穿开设于翘曲筒上并沿平行于翘曲口的方向延伸，所述次品口位于翘曲口的下方，所述升降组件设于翘曲筒内并用于带动翘曲块在次品口与翘曲口之间纵向移动。

进一步地，所述升降组件为升降气缸，所述升降气缸的安装端固连安装于翘曲筒的内壁底面处，所述升降气缸的输出端与翘曲块固连，所述升降气缸的伸缩距离等于次品口与翘曲口之间的距离。

进一步地，所述翘曲筒上固定连接有防护筒，所述防护筒的内侧与翘曲筒的外侧转动连接，所述非弯口的外端抵靠于防护筒的内侧，所述防护筒上开设有与非弯口对应设置的出圈口，所述防护筒上还设有底端开口的导圈罩，所述出圈口的一端贯穿至导圈罩内。

本发明的有益效果：

1.便于对待测密封圈进行分类处理，有效提升密封圈的检测和上料效果，便于收集，检测快速，准确度高；通过设置的预装杆便于对密封圈的移动进行引导，避免待测密封圈撞击检测通道的内壁，加快密封圈的流动速度，可依次对密封圈进行弯曲度检测和翘曲度检测，降低了对密封圈的检测成本，提高了检测效果。

2.通过电缸带动驱动架继续沿同向移动即可再次使两半圆盘合并，结构紧凑，便于两个半圆盘同步的快速合并和分离，移动准确度高，可使密封圈的两端同时失去支撑力，密封圈的两端受力均匀，便于密封圈沿预装杆平稳掉入检测通道内，提高密封圈的降落速度。

3.便于准确筛选密封圈中直径最小时的弯曲度合格品；未符合的待测密封圈的一端伸入离心弧面内，此时将预装杆抽出，并驱动转动组件，带动弯曲筒转动，在离心力的作用下带动该弯曲度为合格的待测密封圈由非弯口排出。

4.翘曲度合格的即可直接由翘曲口的底端排出，未合格的待测密封圈堆积于翘曲口的内端开口处，从而由升降组件将至次品口处，由于次品口贯穿开设于翘曲筒上并沿平行于翘曲口的方向延伸，便于将该翘曲度和弯曲度均未合格的待测密封圈平稳送至次品口处并排出。

5.在弯曲筒转动时，弯曲度未合格的待测密封圈经非弯口和出圈口流向导圈罩内，然后由导圈罩的底部流出，避免待测密封圈飞溅。

6.通过设置的转动组件，可控制转动电机的转速和时间，将弯曲度未合格的待测密封圈位于非弯口与出圈口的连接处时停止，在离心力的作用下该待测密封圈留至导圈罩内，避免待测密封圈进行额外碰撞，不仅可保障检测弯曲度的准确性，还可提升待测密封圈的产品完好性，便于后续处理。

附图说明

图1为本密封圈弯曲度和翘曲度的检测装置的结构示意图；

图2为本密封圈弯曲度和翘曲度的检测装置的局部结构剖视图；

图3为驱动机构的结构示意图；

图4为图3中的A处放大图；

图5为半圆盘的结构示意图；

附图标记说明：

1、检测座；2、半圆盘；3、放置口；4、预装口；5、预装孔；6、预装杆；7、驱动机构；71、电缸；72、导轨；73、驱动架；731、驱动柱；74、驱动槽；8、检测筒；9、检测通道；10、弯曲检测机构；101、弯曲筒；102、弯曲孔；103、非弯口；104、转动组件；1041、转动电机；1042、转动齿轮；1043、连接齿轮；11、翘曲检测机构；111、翘曲筒；112、翘曲腔；1121、翘曲孔；113、翘曲口；114、次品口；115、翘曲块；116、升降组件；12、防护筒；13、出圈口；14、导圈罩。

具体实施方式

为了便于本领域技术人员的理解，下面结合实施例与附图对本发明作进一步的说明，实施方式提及的内容并非对本发明的限定。

如图1-5所示，一种密封圈弯曲度和翘曲度的检测装置，包括检测座1，检测座1上设有两个相向设置的半圆盘2，半圆盘2的侧面顶部开设有放置口3，放置口3的边缘处开设有预装口4，当两个半圆盘2合并时该两个预装口4构成预装孔5，预装孔5内设有用于穿设密封圈的预装杆6，检测座1上设有用于驱动两个半圆盘2同步沿相反相向运动的驱动机构7，检测座1上还设有检测筒8，检测筒8上开设有与放置口3正对设置的检测通道9，预装杆6的底端伸入检测通道9内，检测筒8上设有用于检测密封圈弯曲度的弯曲检测机构10，检测筒8和弯曲检测机构10之间还设有翘曲检测机构11。

如图1-5所示，测试前，通过驱动机构7驱动两个半圆盘2相向合并，将待测试的密封圈放置在该放置口3内，预装杆6穿设于该预装孔5内，将待测密封圈套设在预装杆6上，使其密封圈的底部抵靠于该放置口3的底面处；然后通过驱动机构7带动两个半圆盘2相向分离，密封圈掉入检测通道9内，然后依次经过弯曲检测机构10和翘曲检测机构11进行检测，弯曲度合格的待测密封圈流向翘曲检测机构11，弯曲度不合格的待测密封圈直接排出；再通过翘曲检测机构11对该弯曲度合格的待测密封圈进行翘曲度检测，并最终流出翘曲度和弯曲度均合格的待测密封圈和仅翘曲度不合格的待测密封圈，便于对待测密封圈进行分类处理，有效提升密封圈的检测和上料效果，便于收集，检测快速，准确度高；通过设置的预装杆6便于对密封圈的移动进行引导，避免待测密封圈撞击检测通道9的内壁，加快密封圈的流动速度，可依次对密封圈进行弯曲度检测和翘曲度检测，降低了对密封圈的检测成本，提高了检测效果。

如图3所示，本实施例中，驱动机构7包括电缸71、导轨72、驱动架73以及驱动槽74，电缸71设于检测座1上，导轨72设于检测座1上并与电缸71平行，驱动架73的中部与电缸71的输出端固连，驱动架73的两端分别滑动连接于导轨72上，驱动架73的两端处具有驱动柱731，驱动槽74的数量为两个并对称开设于半圆盘2的底部，驱动槽74呈V型结构且该V型的尖端处朝向预装口4，该V型的两端处连线与导轨72的延伸方向平行，驱动柱731滑动配合于驱动槽74内，当驱动柱731移动至该驱动槽74的尖端处时，密封圈掉入检测通道9内。

通过电缸71带动驱动架73沿导轨72移动，带动驱动柱731在驱动槽74内滑动，当两个半圆盘2合并时，驱动柱731位于待驱动槽74的端部，当驱动柱731滑动至该驱动槽74上V型的尖端处时，两个半圆盘2相向分离，通过电缸71带动驱动架73继续沿同向移动即可再次使两半圆盘2合并，结构紧凑，便于两个半圆盘2同步的快速合并和分离，移动准确度高，可使密封圈的两端同时失去支撑力，密封圈的两端受力均匀，便于密封圈沿预装杆6平稳掉入检测通道9内，提高密封圈的降落速度。

如图1-5所示，本实施例中，弯曲检测机构10包括弯曲筒101、弯曲孔102、非弯口103以及转动组件104，弯曲筒101与检测筒8的底端转动连接，弯曲孔102同轴开设于弯曲筒101的底部，弯曲孔102与密封圈的额定检测直径相同，并且该额定检测直径与密封圈的最小直径，弯曲筒101的内壁中部开设有下小上大的离心弧面，非弯口103贯穿开设于该离心弧面上，转动组件104设于弯曲筒101和翘曲检测机构11之间并用于带动弯曲筒101转动。

如图2、4所示，与该弯曲孔102的直径相同待测密封圈为合格品，从而经过弯曲孔102留至翘曲检测机构11处，由于该额定检测直径与密封圈的最小直径，便于准确筛选密封圈中直径最小时的弯曲度合格品；未符合的待测密封圈的一端伸入离心弧面内，此时将预装杆6抽出，并驱动转动组件104，带动弯曲筒101转动，在离心力的作用下带动该弯曲度为合格的待测密封圈由非弯口103排出。

如图2、4所示，本实施例中，转动组件104包括转动电机1041、转动齿轮1042以及连接齿轮1043，转动电机1041的安装端固连于翘曲检测机构11上，转动电机1041的输出端与转动齿轮1042同轴固连，连接齿轮1043同轴固连于弯曲筒101的外侧，转动齿轮1042与连接齿轮1043固连。

如图2所示，通过转动电机1041带动转动齿轮1042转动，在转动齿轮1042与连接齿轮1043的作用下带动弯曲筒101转动，便于自动带动弯曲筒101转动，该转动电机1041为伺服电机，有效控制弯曲筒101的转动精准度和转动速度，加快该转动电机1041的转速即可缩短密封圈的测试时间。

如图2所示，本实施例中，翘曲检测机构11包括翘曲筒111、翘曲腔112、翘曲口113、次品口114、翘曲块115以及升降组件116，翘曲筒111与弯曲筒101转动连接，转动电机1041的安装端固连于翘曲筒111上，翘曲腔112的顶端具有与弯曲孔102对应的翘曲孔1121，翘曲口113倾斜贯穿开设于翘曲腔112的侧壁，翘曲口113的底端朝向翘曲筒111外，翘曲块115的顶面倾斜设置并与翘曲口113的底面齐平，次品口114贯穿开设于翘曲筒111上并沿平行于翘曲口113的方向延伸，次品口114位于翘曲口113的下方，升降组件116设于翘曲筒111内并用于带动翘曲块115在次品口114与翘曲口113之间纵向移动。

该弯曲度合格的待测密封圈经弯曲孔102和翘曲孔1121后位于翘曲块115的顶面，由于翘曲口113的底端朝向翘曲筒111外，翘曲块115的顶面倾斜设置并与翘曲口113的底面齐平，该翘曲度合格的即可直接由翘曲口113的底端排出，未合格的待测密封圈堆积于翘曲口113的内端开口处，从而由升降组件116将至次品口114处，由于次品口114贯穿开设于翘曲筒111上并沿平行于翘曲口113的方向延伸，便于将该翘曲度和弯曲度均未合格的待测密封圈平稳送至次品口114处并排出。

本实施例中，升降组件116为升降气缸，升降气缸的安装端固连安装于翘曲筒111的内壁底面处，升降气缸的输出端与翘曲块115固连，升降气缸的伸缩距离等于次品口114与翘曲口113之间的距离。

如图2所示，通过升降气缸带动翘曲块115升降移动，由于升降气缸的伸缩距离等于次品口114与翘曲口113之间的距离，避免翘曲块115的顶面底端低于次品口114的开口处底端，防止待该翘曲度和弯曲度均未合格的待测密封圈磕碰，便于保障待测密封器的产品完好性。

本实施例中，翘曲筒111上固定连接有防护筒12，防护筒12的内侧与翘曲筒111的外侧转动连接，非弯口103的外端抵靠于防护筒12的内侧，防护筒12上开设有与非弯口103对应设置的出圈口13，防护筒12上还设有底端开口的导圈罩14，出圈口13的一端贯穿至导圈罩14内。

在弯曲筒101转动时，弯曲度未合格的待测密封圈经非弯口103和出圈口13流向导圈罩14内，然后由导圈罩14的底部流出，避免待测密封圈飞溅；通过设置的转动组件104，可控制转动电机1041的转速和时间，将弯曲度未合格的待测密封圈位于非弯口103与出圈口13的连接处时停止，在离心力的作用下该待测密封圈留至导圈罩14内，避免待测密封圈进行额外碰撞，不仅可保障检测弯曲度的准确性，还可提升待测密封圈的产品完好性，便于后续处理。

本实施例中的所有技术特征均可根据实际需要而进行自由组合。

上述实施例为本发明较佳的实现方案，除此之外，还包括其它方式实现，在不脱离本技术方案构思的前提下任何显而易见的替换均在本发明的保护范围之内。