一种X射线透射法测量陶瓷类样品真气孔率的方法及设备

摘要

本发明公开了一种X射线透射法测量陶瓷类样品真气孔率的方法及设备。该方法首先使用X射线透射法测量陶瓷样品的透射光谱，并通过陶瓷样品透射光谱与已知厚度纯Al片透射光谱的比值和陶瓷样品厚度值，间接求出不同能量条件下陶瓷样品平均线衰减系数的测量值；其次依据胎体和瓷釉中所含元素的组成，分别计算其在不同能量条件下对应的理论质量吸收系数和理论密度；然后依据陶瓷样品胎体和瓷釉的厚度、理论质量吸收系数和理论密度，计算陶瓷样品的平均理论线衰减系数；最后通过陶瓷样品线衰减系数测量值和平均理论值在一定能量区间范围的比值得出陶瓷样品真气孔率的分析结果；所有计算过程通过开发的计算软件实现。本发明在测量陶瓷类样品真气孔率时，具有操作简单、测量速度快等显著的优势，且克服了传统方法进行陶瓷样品真气孔率的测量时操作过程复杂，无法直接和重复测量陶瓷真气孔率的问题。