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场发射器件结构的制造方法及场发射器件结构

摘要

本发明公开了一种场发射器件结构的制造方法及场发射器件结构。该方法包括:提供作为阴极材料的N型单晶硅片;在N型单晶硅片的上表面形成图案化的光刻胶层,光刻胶层包括多个彼此间隔且呈阵列排布的光刻胶遮盖单元;对光刻胶层暴露出的待刻蚀区域进行等离子体刻蚀,等离子体刻蚀的过程包括刻蚀步和保护步,刻蚀步用于通过六氟化硫对待刻蚀区域进行刻蚀,保护步用于通过氧气对刻蚀步形成的刻蚀形貌的侧壁进行保护,通过循环交替执行刻蚀步和保护步,在每个光刻胶遮盖单元下方的N型单晶硅片上形成用于发射电子的尖锥结构;去除光刻胶层,以暴露出呈阵列排布的多个尖锥结构。实现简化工艺步骤、降低制造成本。

著录项

  • 公开/公告号CN114334582A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-04-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京北方华创微电子装备有限公司;

    申请/专利号CN202111594785.6

  • 发明设计人 林源为;

    申请日2021-12-23

  • 分类号H01J9/00(20060101);H01J9/02(20060101);H01J31/12(20060101);H01J37/32(20060101);

  • 代理机构11218 北京思创毕升专利事务所;

  • 代理人孙向民;廉莉莉

  • 地址 100176 北京市大兴区北京经济技术开发区文昌大道8号

  • 入库时间 2023-06-19 14:51:31

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-04-12

    公开

    发明专利申请公布

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