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一种提高碳化硅外延材料少数载流子寿命的方法

摘要

本发明提供一种提高碳化硅外延材料少数载流子寿命的方法,步骤包括:步骤一,将SiC衬底放置到反应室中,并抽真空;步骤二,将氢气通入反应室,通入碳源、硅源和掺杂源进行表面处理;步骤三,通入碳源、硅源和掺杂源通入反应室中进行缓冲层生长;步骤四,进行外延层生长和外延层掺杂;步骤五,第一阶段降温:关闭硅源和掺杂源,进行氢气氛退火处理,退火结束后关闭碳源;步骤六,第二阶段降温:进行氢气氛退火处理;步骤七,重复步骤六若干次直至达到温度要求;步骤八,降低到开腔温度,打开反应室取出碳化硅外延材料。本发明提供的方法工艺过程简单,适于工业化生产;最大限度地提高载流子寿命,且可避免长时间高温退火对材料表面的破坏。

著录项

  • 公开/公告号CN114334609A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-04-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN202111539490.9

  • 发明设计人 王翼;李赟;赵志飞;周平;

    申请日2021-12-16

  • 分类号H01L21/02(20060101);C30B29/36(20060101);C30B25/02(20060101);

  • 代理机构32200 南京经纬专利商标代理有限公司;

  • 代理人孙昱

  • 地址 210016 江苏省南京市秦淮区中山东路524号

  • 入库时间 2023-06-19 14:51:31

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-04-12

    公开

    发明专利申请公布

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