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关于线的关键尺寸的测量方法及带电粒子束设备

摘要

本发明提供了一种关于线的关键尺寸的测量方法及带电粒子束设备,所述方法包括:提供模板图、实测图、待测量区域信息和矩形的测量框;在实测图中获取具有待测线的感兴趣区域,获取待测线的离散边缘点和边缘直线;计算旋转角、第一矢量距离和第二矢量距离,获取第二矢量距离对应的第一期望和第一方差;在所述模板图中获取参考的第二期望和第二方差;根据第一期望和第二期望的比较结果在实测图上进行测量框的移动,比较所述第一方差和第二方差以在当满足预设的迭代停止阈值时,停止移动并记录测量框在实测图中的目标位置,根据目标位置计算待测线的关键尺寸。本发明可降低定位漂移对关键尺寸测量的干扰,提高测量的可重复性和测量结果的准确性。

著录项

  • 公开/公告号CN114295081A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-04-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海精测半导体技术有限公司;

    申请/专利号CN202111660055.1

  • 发明设计人 王岗;刘骊松;杨康康;黄涛;

    申请日2021-12-30

  • 分类号G01B15/00(20060101);

  • 代理机构31286 上海恒锐佳知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人黄海霞

  • 地址 201702 上海市青浦区徐泾镇双浜路269、299号1幢1、3层

  • 入库时间 2023-06-19 14:48:21

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-04-08

    公开

    发明专利申请公布

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