公开/公告号CN114140398A
专利类型发明专利
公开/公告日2022-03-04
原文格式PDF
申请/专利权人 上海大学;
申请/专利号CN202111348548.1
申请日2021-11-15
分类号G06T7/00(20170101);G06T7/73(20170101);G06V10/82(20220101);G06N3/04(20060101);G06N3/08(20060101);G06V10/80(20220101);G06V10/774(20220101);G06V10/764(20220101);
代理机构31205 上海上大专利事务所(普通合伙);
代理人何文欣
地址 200444 上海市宝山区上大路99号
入库时间 2023-06-19 14:23:39
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2022-03-04
公开
发明专利申请公布
机译: 图像缺陷检测方法和图像缺陷恢复方式,是一种检测图像缺陷检测装置和图像缺陷的方法
机译: 缺陷例如晶体生长缺陷,光刻掩模,即掩模版的检测方法,以产生例如集成电路,涉及检查图像集上的缺陷以评估图像中重复缺陷的存在
机译: 缺陷检测装置,图像传感器装置,图像传感器模块,图像处理装置,数字图像质量测试仪,缺陷检测方法,缺陷检测程序和计算机可读记录介质