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一种利用无缺陷图像的少样本缺陷检测方法

摘要

本发明公开了一种利用无缺陷图像来增强缺陷区域特征的少样本缺陷检测方法,对缺陷图像数据集进行处理,将所有类别的缺陷划分为基础类与新类,按照随机选取的原则为新类选定少量样本;构建少样本缺陷检测的深度学习网络,输入的缺陷图像及无缺陷图像经过多层卷积特征提取以及特征融合后,得到输入图像的缺陷区域特征增强的特征图,再对其进行分类和边框回归计算即可得到缺陷的类别及位置;将处理好的训练数据输入构建的深度学习网络训练;利用训练好的模型对测试数据进行实验,基础类的测试实验只需要输入缺陷图像,即可得到该缺陷的类别和位置信息,而新类的测试实验需要同时输入少量缺陷图像和无缺陷图像,得到该缺陷的类别和位置信息。

著录项

  • 公开/公告号CN114140398A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-03-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海大学;

    申请/专利号CN202111348548.1

  • 发明设计人 陈朝;刘志;

    申请日2021-11-15

  • 分类号G06T7/00(20170101);G06T7/73(20170101);G06V10/82(20220101);G06N3/04(20060101);G06N3/08(20060101);G06V10/80(20220101);G06V10/774(20220101);G06V10/764(20220101);

  • 代理机构31205 上海上大专利事务所(普通合伙);

  • 代理人何文欣

  • 地址 200444 上海市宝山区上大路99号

  • 入库时间 2023-06-19 14:23:39

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-03-04

    公开

    发明专利申请公布

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