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具有一致MRAM裸片定向的MOKE计量的系统及方法

摘要

本发明公开一种计量工具,其包含用以产生磁场的磁铁及用以将多个MRAM裸片定位在所述磁场中的MRAM晶片上的载物台系统。所述载物台系统包含其上将要安装所述MRAM晶片的卡盘。所述计量工具进一步包含用以提供激光束且引导所述激光束以入射于经定位在所述磁场中的相应MRAM裸片上的光学器件。所述计量工具额外包含用以接收由所述相应MRAM裸片反射的所述激光束且测量所述反射激光束的偏振的旋转的检测器。所述计量工具可配置以为所述MRAM晶片上的每一MRAM裸片提供相对于所述激光束的所述偏振的共同定向。

著录项

  • 公开/公告号CN114144689A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-03-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 科磊股份有限公司;

    申请/专利号CN202080052828.5

  • 发明设计人 F·瓦伊达;

    申请日2020-07-24

  • 分类号G01R33/12(20060101);G01R33/14(20060101);G01R33/032(20060101);H01L27/22(20060101);

  • 代理机构11287 北京律盟知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人刘丽楠

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2023-06-19 14:23:39

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-03-04

    公开

    国际专利申请公布

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