首页> 中国专利> 一种分区域的同步相移干涉图超分辨重建的插值方法

一种分区域的同步相移干涉图超分辨重建的插值方法

摘要

本发明公开了一种分区域的同步相移干涉图超分辨重建的插值方法,涉及同步偏振成像信息处理技术领域。现有技术中存在的同步相移干涉图分辨率缺失的问题。本发明提供一种分区域的同步相移干涉图超分辨重建的插值方法,步骤如下:首先输入4幅不同偏振方向的低分辨率图像,然后将低分辨率图像全部划分为2*2的块区域,计算各块区域的平滑度P以及图像的平滑度阈值Pmedian,并将二者进行比较,得到平滑区域和非平滑区域,平滑区域使用加权线性插值方法进行插值,非平滑区域使用多采样循环卷积算法进行插值,待所有块区域完成插值,整个分区域插值操作结束。本发明提出的插值方法有效地降低了分焦平面系统带来的瞬时视场误差,重构了更高分辨率的偏振图像。

著录项

  • 公开/公告号CN114119367A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-03-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安工业大学;

    申请/专利号CN202111359544.3

  • 申请日2021-11-17

  • 分类号G06T3/40(20060101);

  • 代理机构61114 西安新思维专利商标事务所有限公司;

  • 代理人黄秦芳

  • 地址 710032 陕西省西安市未央区学府中路2号

  • 入库时间 2023-06-19 14:19:02

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-03-01

    公开

    发明专利申请公布

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号