用于集成电路硬件设计的故障注入测试的方法和系统

摘要

本发明涉及用于集成电路硬件设计的故障注入测试的方法和系统。该方法包括：(a)接收识别所述硬件设计的一个或多个故障节点的原始故障节点列表；(b)接收指示所述原始故障节点列表中的故障节点分组成多个故障节点组的信息，每个故障节点组包括对所述硬件设计的失效模式具有相同影响的故障节点；(c)基于所述故障节点组生成最终故障节点列表；(d)从所述最终故障节点列表选择一组故障注入参数，所述一组故障注入参数识别所述最终故障节点列表中要发生故障的至少一个故障节点；(e)基于所选择的一组故障注入参数，通过使故障注入到所述硬件设计的仿真中，对所述硬件设计执行故障注入测试；(f)确定所述故障注入测试的结果。