法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2022-07-15
实质审查的生效 IPC(主分类):G02F 1/1343 专利申请号:2020800490803 申请日:20200702
实质审查的生效
机译: 像素矩阵显示器,其几何形状可以抑制由于像素阵列中的不连续性引起的图像伪影
机译: 用于抑制来自具有像素阵列和重叠滤色器图案的图像传感器的亮度信号中的伪影的图像信号处理
机译: 使用X射线荧光透视法进行薄膜测量,例如用于测量镀锌层的厚度,从而使用于形成X射线检查光束的光阑与要检查的组件的几何形状匹配