5种常用口腔材料磁共振伪影的比较及减轻伪影的方法研究

摘要

目的:
　　比较口腔科经常使用的2种陶瓷材料和3种金属材料在3.0T、1.ST及0.35T三种场强、不同序列的磁共振成像（Magnetic resonance imaging，MRI）中形成伪影面积的差异及研究减轻伪影的方法。
　　方法:
　　研究铸造陶瓷、Alldental Alfa Ceramic90贵金属合金（简称贵金属合金）、CW-PA型牙科烤瓷镍铬合金（简称烤瓷镍铬合金）与Wirobond C新配方钴铬烤瓷合金（简称钴铬烤瓷合金）这5种材料在MRI机中是否会出现移位、抛射等现象。比较各种材料制作的模型在不同场强、不同序列的磁共振扫描中伪影面积的差异。将上述2种陶瓷材料和3种金属材料分别制作成形状和体积相同的中切牙内冠，分别置入盛满生理盐水的塑料罐中，分别在3.0T、1.5T及0.35T的磁共振机中扫描获得T1加权成像(T1-weighted images，T1WI)及T2加权成像(T2-weighted images，T2WI)影像。将伪影最重的钴铬合金材料在1.5T的磁共振机中，用DWI、SWI、PROPELLER-FSE-T2WI、FS-FSE-T2WI、FLAIR-FSE-T2WI、STIR-FSE-T2WI、FSE-T2WI、短TE FSE-T2WI序列、短回波链FSE-T2WI序列、大带宽FSE-T2WI序列、小体素FSE-T2WI序列进行扫描并对图像进行对比研究。
　　结果:
　　1.以上5种材料在0.35T、1.5T、3.0T的MR机中均未出现移位及抛射等现象出现。氧化锆内冠在3种场强的磁共振机中扫描无明显伪影。铸造陶瓷、贵金属合金、烤瓷镍铬合金与钴铬烤瓷合金在各种场强的MR机中均见伪影产生，由它们引起的伪影的平均值分别为0.12(cm2)±0.02，0.47(cm2)±0.15，4.50(cm2)±0.72，5.22(cm2)±0.72，伪影面积依次从小到大排列为:铸造陶瓷、贵金属合金、烤瓷镍铬合金、钴铬烤瓷合金，伪影面积差异具有统计学意义(P＜0.05)。铸造陶瓷在不同场强的MRI机中产生的平均伪影面积，随着场强的增大而增大，伪影面积差异则无统计学意义(P＞0.05);贵金属合金、烤瓷镍铬合金、钴铬烤瓷合金在不同场强的MR机中产生的伪影，随着场强的增大，伪影面积都增大，伪影面积差异有统计学意义(P＜0.05)。在不同场强的MR机中，上述4种材料的在T2WI中产生的伪影面积略大于或等于在T1WI中产生伪影面积，伪影面积差异无统计学意义(P＞0.05)。
　　2.钴铬合金在1.5 T磁共振、不同序列中平均伪影面积从大到小排列为:DWI＞SWI＞PROPELLER-FSE-T2WI＞FS-FSE-T2WI＞FLAIR-FSE-T2WI＞STIR.FSE-T2WI＞FSE-T2WI＞短TE FSE-T2WI序列＞短回波链FSE-T2WI序列＞大带宽FSE-T2WI序列＞小体素FSE-T2WI序列。与F S E-T2WI序列对比，DWI、SWI、PROPELLER--FSE-T2WI、FS-FSE-T2WI等序列伪影面积大于F S E-T2 W I序列的伪影面积，伪影面积差异有统计学意义(P＜0.05);FLAIR-FSE-T2WI、STIR-FSE-T2WI序列伪影面积大于F S E-T2WI序列的伪影面积，伪影面积差异无统计学意义(P＞0.05);短TE FSE-T2WI序列、短回波链FSE-T2WI序列伪影面积小于FSE-T2WI序列的伪影面积，伪影面积差异无统计学意义(P＞0.05)。大带宽FSE-T2WI序列、小体素FSE-T2WI序列小于F S E-T2 W I序列的伪影面积，伪影面积差异有统计学意义(P＜0.05)。说明短TE、短回波链、大带宽、小体素有一定的减轻伪影作用，其中大带宽、小体素扫描效果较明显。
　　结论:
　　佩戴上述5种材料制作的义齿进行MRI检查，均未引起移位及抛射等情况的发生。2种常见口腔陶瓷材料中，氧化锆基本无伪影，铸造陶瓷伪影极轻微。贵金属合金、烤瓷镍铬合金与钴铬烤瓷合金这3种常用口腔金属材料MRI伪影较重，伪影面积随主磁体场强增加而增大。贵金属合金、烤瓷合金、钴铬合金会在MRI扫描中产生不同程度的伪影，对周围组织产生比较明显的影响，要减小伪影可以考虑:(1)低场强MRI中检查。(2)选择适当的参数及序列。(3)使用特殊扫描序列。

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摘要

缩略词表

第1章 引言

第2章 材料与方法

2．1 实验材料

2．2 实验设备

2．3 方法

2．4 伪影大小的判断依据

2．5 统计学处理

第3章 结果

第4章 讨论

结论

参考文献

综述 MRI常见伪影及处理对策

作者简历及在学期间所取得的科研成果