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相干光谱测量系统及测量方法

摘要

本发明提供一种相干光谱测量系统,包括:第一激光模块,适用于产生周期性光脉冲序列;第二激光模块,适用于输出光信号;时域拉伸模块,与所述第一激光模块的输出端连接,适用于对所述周期性光脉冲序列进行时域拉伸处理,输出周期性啁啾光脉冲;光混频模块,与所述第二激光模块的输出端和所述时域拉伸模块的输出端分别连接,适用于对所述周期性啁啾光脉冲与所述光信号进行耦合以及对所述光信号进行相位分集处理,输出具有相位差的耦合相位分集光信号;光电探测模块,适用于对所述耦合相位分集光信号进行外差光电转换,得到微波信号;信号处理模块,适用于将所述微波信号转化为数字信号并输出信号测量结果。本发明还提供一种相干光谱测量方法。

著录项

  • 公开/公告号CN114018406A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-02-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院半导体研究所;

    申请/专利号CN202111323369.2

  • 申请日2021-11-09

  • 分类号G01J3/28(20060101);G01J3/10(20060101);

  • 代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人樊晓

  • 地址 100083 北京市海淀区清华东路甲35号

  • 入库时间 2023-06-19 14:08:07

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-09-05

    授权

    发明专利权授予

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