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公开/公告号CN114018406A
专利类型发明专利
公开/公告日2022-02-08
原文格式PDF
申请/专利权人 中国科学院半导体研究所;
申请/专利号CN202111323369.2
发明设计人 肖晔;夏施君;石暖暖;袁海庆;李明;
申请日2021-11-09
分类号G01J3/28(20060101);G01J3/10(20060101);
代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;
代理人樊晓
地址 100083 北京市海淀区清华东路甲35号
入库时间 2023-06-19 14:08:07
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2023-09-05
授权
发明专利权授予
机译: 接触透镜,幽默拉曼光谱测量装置,幽默拉曼光谱测量系统和幽默拉曼光谱测量方法
机译: 光谱测量方法,光谱测量系统和宽带脉冲光源
机译: 光透射路径光谱测量装置,光透射路径系统,光透射路径光谱测量方法和计算机可读介质
机译:红外光谱测量方法1基础知识和最新方法第二部分各种测量方法No.7 10。光声测量方法
机译:红外光谱测量方法1基础知识和最新方法第二部分物种测量方法5th 7B。薄膜/界面外反射测量方法
机译:DFB-LD在水蒸气检测系统中的宽吸收光谱测量方法
机译:DFB-LDs在水蒸气检测系统中的宽吸收光谱测量方法
机译:部分相干场和相干测量方法的研究。
机译:在对齐的样品上使用FTIR和固态NMR光谱测量方法对肽纳米管分子结构的见解
机译:两种用于空间和商业应用的新型光谱测量方法