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结果数据库快速生成OPC测试版图的方法和系统、存储介质

摘要

本发明公开了一种结果数据库快速生成OPC测试版图的方法和系统、存储介质,该方法包括以下步骤:步骤一,根据用户最受关注的检测项数据库,按照其格式读出各个检测项的性质并提取所需的信息以结构单元的数据格式寄存在结果数据库的树数据结构中;步骤二,读取树数据结构,选中检测项的弱点;步骤三,根据坐标生成截取盒子并通过交集逻辑操作将选中的检测项的弱点所在的GDS截取出来,寄存在Gdsii数据结构中;步骤四,将已截取出的GDS片段均匀排布,生成新的OPC测试版图。本发明方便手续芯片数据收集。

著录项

  • 公开/公告号CN114020738A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-02-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海华力集成电路制造有限公司;

    申请/专利号CN202111238582.3

  • 发明设计人 解为梅;

    申请日2021-10-25

  • 分类号G06F16/22(20190101);G06F16/242(20190101);

  • 代理机构31211 上海浦一知识产权代理有限公司;

  • 代理人刘昌荣

  • 地址 201203 上海市浦东新区良腾路6号

  • 入库时间 2023-06-19 14:08:07

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