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一种去除硅片磷扩散后反行层的方法

摘要

本发明涉及一种去除硅片磷扩散后反行层的方法,属于硅片生产技术领域。本发明中采用碱液腐蚀替代原有的喷砂技术去除硅片表面的磷扩散反行层,碱液腐蚀可以有效减少去除过程中对硅片表面造成的机械损伤,避免缺角、破裂及暗伤现象的出现,并且在之后的硼扩步骤中增加扩散时间,以提高硼扩结深,提高产品品质。

著录项

  • 公开/公告号CN114023638A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-02-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 扬州虹扬科技发展有限公司;

    申请/专利号CN202111289197.1

  • 发明设计人 贾健;陈宏胤;杜凤;

    申请日2021-11-02

  • 分类号H01L21/228(20060101);

  • 代理机构11516 北京文苑专利代理有限公司;

  • 代理人于利晓

  • 地址 225000 江苏省扬州市邗江区北山工业园潍柴大道5号

  • 入库时间 2023-06-19 14:06:32

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-02-03

    授权

    发明专利权授予

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