首页> 中国专利> 大尺寸研磨盘高平面度精确量化的高效修整方法

大尺寸研磨盘高平面度精确量化的高效修整方法

摘要

本发明属于光学元件加工技术领域,公开了一种大尺寸研磨盘高平面度精确量化的高效修整方法,其过程为:待修整研磨盘通过螺纹连接到机床上,在线修整机构通过在线修整机构安装支架连接到机床上,所述方法中量化控制百分表通过安装支架连接到在线修整机构安装支架上,从而与机床床身连接到一起,在线修整机构机身上加装转接支架,量化控制百分表安装到安装支架上,与转接支架接触。本发明修整方法允许根据研磨盘平面度测量结果精确调整修整量,从而使得研磨盘平面度达到指定精度。

著录项

  • 公开/公告号CN113997202A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-02-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安应用光学研究所;

    申请/专利号CN202111340995.2

  • 申请日2021-11-12

  • 分类号B24B53/017(20120101);B24B49/04(20060101);

  • 代理机构11011 中国兵器工业集团公司专利中心;

  • 代理人刘二格

  • 地址 710065 陕西省西安市雁塔区电子三路西段九号

  • 入库时间 2023-06-19 14:06:32

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-02-01

    公开

    发明专利申请公布

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号