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基于波数域分解的综合孔径辐射计近场成像方法及系统

摘要

本发明公开了一种基于波数域分解的综合孔径辐射计近场成像方法及系统,与传统分析方法相比,本发明提出了近场成像由于来波方向的不一致性,得到的波数域图像是散焦图像,同时波数域信息中存在距离向的耦合。因此,本发明通过满阵或者采用线阵移动的方式获取等效满阵,并采用单对多复相关方式获取近场可见度函数;并将可见度函数进行傅里叶变换或傅里叶反变换得到波数域信息,并对波数域信息进行相位补偿,去除距离向耦合;对去除距离向耦合的波数域数据进行傅里叶反变换或傅里叶变换,再通过对最终的结果取幅度,得到最终的近场反演图像。如此,本发明最终得到的图像是位于笛卡尔坐标系xoy平面中,不存在校正误差,成像质量和精度高。

著录项

  • 公开/公告号CN113970740A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-01-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华中科技大学;

    申请/专利号CN202010724331.5

  • 发明设计人 胡飞;付鹏;郑涛;胡昊;

    申请日2020-07-24

  • 分类号G01S13/90(20060101);G01S13/88(20060101);

  • 代理机构42201 华中科技大学专利中心;

  • 代理人李智

  • 地址 430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号

  • 入库时间 2023-06-19 14:00:21

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