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一种单晶XRD精修方法及其平台

摘要

本发明公开了一种单晶XRD精修方法及其平台,该方法包括以下步骤:S1.数据处理;S2.寻找峰值;S21.初步判定;S22.获取第一判据;S23.获取第二判据;S24;S3.晶格常数和零点漂移计算;该平台包括:数据处理模块、寻峰模块和计算模块;所述寻峰模块包括初步判定单元、第一判据获取单元、第二判据获取单元和最终峰值获取单元;本发明能够精确地找到单晶XRD峰值,能够有效提高材料结构表征的准确性,对于晶体结构的表征有着非常大的帮助,并且该方法逻辑简捷,减少了计算的时间,提高了计算结果的准确性。

著录项

  • 公开/公告号CN113945592A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-01-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 曲靖师范学院;

    申请/专利号CN202111197861.X

  • 申请日2021-10-14

  • 分类号G01N23/20(20180101);G01N23/20008(20180101);G01N23/20025(20180101);

  • 代理机构11465 北京慕达星云知识产权代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人符继超

  • 地址 655011 云南省曲靖市经济技术开发区三江大道曲靖师范学院

  • 入库时间 2023-06-19 13:57:16

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