公开/公告号CN113945741A
专利类型发明专利
公开/公告日2022-01-18
原文格式PDF
申请/专利权人 中华精测科技股份有限公司;
申请/专利号CN202010679905.1
申请日2020-07-15
分类号G01R1/067(20060101);G01R1/073(20060101);
代理机构72003 隆天知识产权代理有限公司;
代理人聂慧荃;闫华
地址 中国台湾桃园市
入库时间 2023-06-19 13:57:16
机译: 用于制造探针卡的探针的方法,用于该探针卡的抛光装置以及具有由该探针卡制造的探针的探针卡
机译: 用于校准接触位置的探针卡,探针测试装置,用于设置探针卡的方法以及使用用于校准接触位置的探针卡来对探针测试装置进行校准的方法
机译: 用于测试半导体装置的探针卡,探针卡内置探针系统以及探针卡的制造方法