首页> 中国专利> 一种单颗低轨星的伪距及多普勒混合测量定位精度评估方法

一种单颗低轨星的伪距及多普勒混合测量定位精度评估方法

摘要

一种单颗低轨星的伪距及多普勒混合测量定位精度评估方法,设定定位时间及采样间隔后,确定卫星测量资料及采样点,计算伪距理论测量值及伪距观测值、多普勒理论测量值多普勒理论测量值,通过构建基于伪距及多普勒的混合测量观测方程,进行用户位置、钟差解算,并通过连续迭代获取单颗低轨星覆盖区域内各网格点的最终定位结果及定位精度。

著录项

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号