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一种基于SOT-MRAM的读写方法、读写电路及SOT-MRAM

摘要

本发明提供了一种基于SOT‑MRAM的读写方法、读写电路及SOT‑MRAM。该读写方法包括:向SOT层通入写电流,以翻转磁性隧道结中自由层的磁化方向,使自由层与参考层的磁化方向处于平行态或反平行态;读取磁性隧道结的电容值;根据磁性隧道结的电容值,判断磁性隧道结处于第一状态还是处于第二状态。通过读取磁性隧道结的电容值,并根据磁性隧道结的电容值,判断磁性隧道结处于第一状态还是第二状态,实现对存储单元内的数据“0”和“1”的识别读取。采用磁电容式的SOT‑MRAM,对MTJ的生长条件、材料选择以及读取电路的灵敏度相对于电阻式SOT‑MRAM要求较低,使磁电容式SOT‑MRAM对磁性隧道结的生长条件和材料选择不像磁电阻式SOT‑MRAM那样苛刻,降低制造和读取SOT‑MRAM的难度。

著录项

  • 公开/公告号CN113948129A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-01-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院微电子研究所;

    申请/专利号CN202111206952.5

  • 发明设计人 毕冲;赵倩文;刘明;

    申请日2021-10-15

  • 分类号G11C11/16(20060101);

  • 代理机构11667 北京兰亭信通知识产权代理有限公司;

  • 代理人赵永刚

  • 地址 100029 北京市朝阳区北土城西路3号

  • 入库时间 2023-06-19 13:55:46

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