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一种等离子体处理装置及半导体结构的形成方法

摘要

本发明公开了一种等离子体处理装置,包括反应腔、第一气体源、第二气体源、第三气体源和抽气泵;反应腔内底部包括基座,基座用于承载待处理基片;第一气体源、第二气体源和第三气体源,分别通过第一通路、第二通路和第三通路与反应腔连接;抽气泵的第一端与第二通路连接,第二端与第三通路连接,用于隔离第二气体源与第三气体源中的气体。此发明解决了待处理基片在刻蚀过程中产生副产物的堆积,而影响刻蚀的非平坦的问题,通过设置多条刻蚀气体的通路,实现多条通路的频繁动态切换,实现了刻蚀处理过程中待处理基片的刻蚀平坦化。

著录项

  • 公开/公告号CN113948358A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-01-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中微半导体设备(上海)股份有限公司;

    申请/专利号CN202010689990.X

  • 发明设计人 耿振华;张洁;张国雄;刘志强;

    申请日2020-07-17

  • 分类号H01J37/305(20060101);H01J37/32(20060101);H01L21/3065(20060101);H01L21/67(20060101);

  • 代理机构31323 上海元好知识产权代理有限公司;

  • 代理人张妍;章丽娟

  • 地址 201201 上海市浦东新区金桥出口加工区(南区)泰华路188号

  • 入库时间 2023-06-19 13:55:46

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