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一种用于高纯锆、铪中杂质元素的分离测定方法

摘要

本发明公开了一种用于高纯锆、铪中杂质元素的分离测定方法,包括将高纯锆、高纯铪溶解,采用均相沉淀法将溶解液中的锆、铪基体与杂质分离。采用此方法可将溶液中锆、铪基体均相沉淀,基体降至100μg/mL以下,基本消除了基体效应;而溶液中的待测杂质元素在基体沉淀过程中保持浓度不变,从而准确测定核级高纯材料中的待测杂质元素,降低了待测杂质元素的检测限,确保测定的准确性、稳定性,与实验室内及实验室间比对测试结果相符,满足核级材料中待测杂质元素的检测。

著录项

  • 公开/公告号CN113916870A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-01-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国核动力研究设计院;

    申请/专利号CN202111219439.X

  • 申请日2021-10-20

  • 分类号G01N21/73(20060101);

  • 代理机构51220 成都行之专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人梁田

  • 地址 610000 四川省成都市双流区长顺大道一段328号

  • 入库时间 2023-06-19 13:52:41

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