热区标签和热区离群值检测

摘要

用于通过检测存储器装置中的热区标签和热区离群值来改善频繁改变的装置温度条件下的读取性能的方法、装置和系统。可以为所述存储器装置配置多个热区。可以测量对应于打开所述存储器装置的存储块用于编程的第一温度。随后可以测量对应于关闭所述存储块用于编程的第二温度。可以确定所述第一温度与所述第二温度之间的范围。所述范围可以横跨N≥2的所述热区。最终，在N满足阈值的条件下，可以将所述存储块指派到包含所述第二温度的热区。