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用于介电材料中应力的表征方法

摘要

用于介电材料中应力的表征方法,包括:经由平行调制、第一前偏振调制、聚焦调制对源太赫兹波进行第一调制并使其穿过试样的一区域后经由平行调制、第一后偏振调制、聚焦调制后作为第一信号被接收;经由平行调制、第二前偏振调制、聚焦调制对源太赫兹波进行第二调制并使其沿经第一调制后的太赫兹波相同的方向穿过试样的上述区域后经由平行调制、第二后偏振调制、聚焦调制后作为第二信号被接收;计算第一信号与第二信号的幅值差异,从而获得在该区域的两个主光轴的方向和在所述两个主光轴方向上的折射率差,以表征该区域的主应力差的强度及其方向。

著录项

  • 公开/公告号CN113820052A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-12-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 天津大学;

    申请/专利号CN202110996058.6

  • 申请日2021-08-27

  • 分类号G01L1/24(20060101);

  • 代理机构11506 北京东方灵盾知识产权代理有限公司;

  • 代理人张丛

  • 地址 300354 天津市津南区海河教育园区内雅观路135号

  • 入库时间 2023-06-19 13:48:08

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-06-02

    授权

    发明专利权授予

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