一种表征碲镉汞红外探测器电极沉积损伤的方法

摘要

本发明公开了一种表征碲镉汞红外探测器电极沉积损伤的方法，本发明所述方法能够有效对预设碲镉汞芯片的电极沉积损伤进行表征，从而优化电极生长条件，减少电极沉积损伤，最终提高了碲镉汞红外探测器的性能。