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一种上采样逆向分块映射方法

摘要

本发明公开了一种上采样逆向分块映射方法,包括:S1,读取输入特征图数据并存放在移位缓存区中;S2,找出输出特征图分块中的像素点,映射在输入特征图中最相邻四个的像素点的位置;S3,采用流水线的方式,计算得到输出特征图的像素值,包括:S31,在垂直方向上,将最相邻的四个像素点与列方向的参数,进行一次乘法,得到的四个中间值再做加法,得到两个中间值;S32,将两个中间值,与行方向的参数,分别做乘法,得到两个中间值,再将两个中间值做一次加法,得到输出特征图的上采样后的像素点;S4,处理完一分块的数据后,返回S1,处理下一分块;S5,待输入特征图处理完后,根据寄存器指令继续处理下一张特征图。

著录项

  • 公开/公告号CN113887720A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-01-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 杭州电子科技大学;

    申请/专利号CN202111148518.6

  • 申请日2021-09-29

  • 分类号G06N3/08(20060101);G06N3/04(20060101);

  • 代理机构33213 杭州浙科专利事务所(普通合伙);

  • 代理人杨小凡

  • 地址 310018 浙江省杭州市经济开发区白杨街道2号大街1158号

  • 入库时间 2023-06-19 13:32:21

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