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用于提高芯片内SRAM PUF稳定性的电路装置及方法

摘要

本发明提供一种用于提高芯片内SRAM PUF稳定性的电路装置及方法,电路装置包括多个并列连接的PMOS管,所有PMOS管的栅极均连接芯片内部逻辑控制信号Vg,所有PMOS管的源极均连接芯片内SRAM阵列供电电源输入端,所有PMOS管的漏极均连接芯片内部供电电源。本发明利用PMOS管阵列为芯片内SRAM阵列供电,且提出对应的控制开启和关闭的方式,保证每次SRAM上电时,SRAM供电电源快速从0V上升到正常工作电压,缩短SRAM供电电源在CMOS电路易受干扰的电压段(300~500mV)停留时间,提高芯片内部SRAMPUF稳定性。

著录项

  • 公开/公告号CN113889156A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-01-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 武汉瑞纳捷半导体有限公司;

    申请/专利号CN202111075324.8

  • 发明设计人 刘徐港;肖继银;李宏杰;徐芳;

    申请日2021-09-14

  • 分类号G11C5/14(20060101);G11C29/42(20060101);G06F21/71(20130101);H04L9/32(20060101);

  • 代理机构42242 武汉蓝宝石专利代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人赵红万

  • 地址 430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区金融港一路7号光谷智慧园15栋01号楼

  • 入库时间 2023-06-19 13:32:21

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