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公开/公告号CN113707521A
专利类型发明专利
公开/公告日2021-11-26
原文格式PDF
申请/专利权人 FEI 公司;
申请/专利号CN202110540499.5
发明设计人 P·多纳;C·M·斯密特;
申请日2021-05-18
分类号H01J37/20(20060101);H01J37/141(20060101);H01J37/26(20060101);
代理机构72001 中国专利代理(香港)有限公司;
代理人邹松青;王丽辉
地址 美国俄勒冈州
入库时间 2023-06-19 13:24:42
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2023-04-14
实质审查的生效 IPC(主分类):H01J37/20 专利申请号:2021105404995 申请日:20210518
实质审查的生效
机译: 轴向对准组件,以及具有这种对准组件的带电粒子显微镜
机译: 带电粒子束轴向对准装置,带电粒子束照射装置和带电粒子束轴向对准方法
机译:用于检查有源传感器的视轴对准的目标组件该组件可以同时测量多个发射器激光束和接收器通道的共硼铁矿对准。
机译:TKA中最佳对准的偏差:股骨或胫骨组件对准之间是否存在生物力学差异?
机译:为机械对准设计的股骨组件的运动对准和屈曲是否会减少滑车的近端和侧伸距离?
机译:使用自对准和微机械挡块的高精度无源对准倒装芯片组件
机译:对准碳纳米管组件上的热解碳涂层和高级碳纳米管/碳复合材料的制备
机译:不同胫骨组件设计中全膝关节置换术后的联合旋转对准变化:最佳胫骨组件旋转对准的含义
机译:通过采用自然启发磁指导将生物分子的丝状超分子组件的丝状超分子组件的控制对准变为厘米级高度有序图案
机译:过渡行星探测卫星(TEss)光学组件的公差,对准和测试。