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MEMS梳齿电容式加速度传感器品质因子的退化分析方法

摘要

本发明提供了一种MEMS梳齿电容式加速度传感器品质因子的退化分析方法,包括建立在热弹性阻尼影响下加速度传感器品质因子的退化模型;建立因腔体内部材料释气以及腔体的泄漏共同影响下腔体内部压强随时间的变化关系;建立腔体内稀薄气体阻尼与压强之间的关系模型;建立受稀薄气体阻尼影响下加速度传感器品质因子的退化模型;建立在热弹性阻尼以及稀薄气体阻尼共同影响下MEMS梳齿电容式加速度传感器品质因子退化模型,并基于该模型进行退化分析。本发明分析了电容式加速度传感器各种参数与品质因子之间的关系,为电容式加速度传感器的设计及维护提供了参考依据,也为电容式加速度传感器的退化及寿命分析提供了帮助。

著录项

  • 公开/公告号CN113687103A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-11-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 电子科技大学;

    申请/专利号CN202110989287.5

  • 申请日2021-08-26

  • 分类号G01P15/125(20060101);

  • 代理机构11870 北京正华智诚专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人李林合

  • 地址 611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号

  • 入库时间 2023-06-19 13:21:35

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-06-14

    授权

    发明专利权授予

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