首页> 中国专利> 基于均值偏移聚类的量化噪声去除方法、设备及存储介质

基于均值偏移聚类的量化噪声去除方法、设备及存储介质

摘要

本发明是关于一种基于均值偏移聚类的量化噪声去除方法、设备及存储介质。该方法包括:选择初始中心像素,确定初始中心像素所在的初始窗口;通过计算找到初始窗口中与初始中心像素的类型相同的像素;计算类型相同的像素的平均向量;利用平均向量找到下一个中心像素,重复以上步骤,对所有类型相同的像素求解平均像素特征量值;将平均像素特征量值替代初始中心像素的像素特征量值;利用孤立点去除算法进行去噪处理。本发明通过均值偏移聚类方法,在差值图像区域进行漂移聚类,统计相同类型的像素,分类计算均值,用聚类均值替换原像素特征量值,然后利用孤立点去除法进一步去除量化噪声,进而达到平滑去噪的目的,极大消除量化噪声的影响。

著录项

  • 公开/公告号CN113689347A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-11-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安万像电子科技有限公司;

    申请/专利号CN202110947376.3

  • 发明设计人 王知明;

    申请日2021-08-18

  • 分类号G06T5/00(20060101);G06K9/62(20060101);

  • 代理机构61241 西安亚信智佳知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人张西娟

  • 地址 710065 陕西省西安市高新区唐延南路8号3G智能终端产业园4号厂房第3层302室

  • 入库时间 2023-06-19 13:21:35

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号