光片显微镜和用于确定样本空间中的物体折射率的方法

摘要

一种光片显微镜，其包括：样本空间，在该样本空间中可布置盖玻片或载玻片，该盖玻片或载玻片具有限定部分反射界面的表面；光学系统，该光学系统带有面向所述盖玻片或载玻片的物镜；被设计用于产生光片的照明机构；传感器；和处理器。所述光片显微镜形成用于检测测量变量的测量装置。该测量装置被设计用于，将所述光片穿过所述光学系统倾斜入射地转向到所述盖玻片或载玻片上，通过部分地在所述界面处反射所述光片来产生反射光束，接收穿过所述光学系统的反射光束并转向到所述传感器上。所述传感器被设计用于检测所述反射光束的强度和/或入射位置。所述处理器被设计用于基于所述反射光束的所检测的强度和/或入射位置来确定测量变量。