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一种基于双轴心轨迹的卷对卷印刷单元故障诊断方法

摘要

本发明公开了一种基于双轴心轨迹的卷对卷印刷单元故障诊断方法,包括:基于离压振动信号与合压耦合信号的差值建立耦合数学模型,在R2R单元的振动信号中剥离出由耦合信号数学模型所获取的印刷要素耦合信号,对印刷要素耦合信号进行提纯,并合成为双轴心轨迹线;通过稀疏感知器对双轴心轨迹线图像的关联信息进行多层融合,提取多层抽象化特征;以多层抽象化特征作为输入,基于卷积神经网络构建软故障识别网络,并输出印刷单元的软故障。使得隐藏层神经元在多数情况下被抑制从而实现逐层抽象化过程,避免了因丢失图像信息从而提取信息特征不足的现象,能降低数据维度,提高计算效率,进而提高软故障识别准确性。

著录项

  • 公开/公告号CN113657156A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-11-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安理工大学;

    申请/专利号CN202110789322.9

  • 申请日2021-07-13

  • 分类号G06K9/00(20060101);G06N3/04(20060101);G06N3/08(20060101);G01M13/00(20190101);

  • 代理机构61214 西安弘理专利事务所;

  • 代理人王丹

  • 地址 710048 陕西省西安市碑林区金花南路5号

  • 入库时间 2023-06-19 13:16:59

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