测试图形的验证方法、装置、设备及存储介质

摘要

本申请提供一种测试图形的验证方法、装置、设备及存储介质，可应用于芯片验证领域，该方法包括：首先从测试图形库中选取满足第一设计规则的第一测试图形，再验证第一测试图形是否满足第二设计规则，将满足第一设计规则和第二设计规则的测试图形存储至有效测试图形库中。其中第一设计规则包括用于限定集成电路不同区域中第一检查项的数值范围的规则，第二设计规则包括用于限定第一测试图形所在区域中第二检查项的数值范围的规则，第一检查项和第二检查项之间具有关联关系。上述验证方法至少具有以下优点：提高了测试图形验证结果的准确性。